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    美国BH贝克休斯超声波探头

    2024-04-24 08:07:30  来源:泰立仪器

    美国Bakerhughes贝克休斯超声波探头  (原德国Krautkrmer 原美国GE)


    接触式探头传感
    接触式直探头-软保护膜
    接触式直探头-硬保护层
    接触式直探头-带延迟块
    接触式直探头-双晶探头
    接触式斜探头-大晶片
    接触式斜探头-小晶片
    接触式斜探头-双晶探头

    接触式探头,特殊应用探头,相控阵探头,水浸探头浸入式传感器

    探头传感器配件
    线缆和适配器
    耦合剂
    校准试块

     

    需求分析:

    我们已经设计生产了超过一百万个超声探头,包括14000个特殊应用探头,我们具有非常丰富的设计与生产探头经验,我们会根据检测应用需求选择*佳的探头设计方案。

     

    生产标准:

    为了确保每个探头的质量,我们严格执行探头生产规范和相应的标准

     

    仿真设计:

    在探头*初设计阶段,我们使用先进的仿真软件仿真超声声场,化探头设计,同时我们对使用仿真软件有非常丰富的经验,非常了解仿真软件的局限性,我们知道如何根据仿真结果优化设计与生产探头。

     

    应用测试:

    我们在全球有应用中心,能够在应用中心实验室对各种复杂应用工件进行实验测试,根据实验测试效果研究出*佳检测方案,你要做的只是将需检测的工件寄给我们。

     

    材料选择和加工

    我们在采购原材料时使用*高标准,并且我们的内部制造按照ISO标准进行控制。我们在爱尔兰香农的工厂生产压电复合陶瓷品片,能够根据具体要求生产*佳压电品征。

     

    原型探头

    在充分了检测需求之后,我们制作原型探头,以进一步验证该解决方案的有效性。

     

    探头测试

    我们确保每个探头的可重复性和稳定性,每个探头在每一生产环节都根据标准规范严格测试,确保满足技术规范要求。我们每个探头都有序列号,记录每个探头的所有技术参数,并且生成测试报告保存于我们的数据库中,我们提供探头技术参数,包括每个探头的探头波形和频谱结果,以及各技术参数的误差范围。

     

    制造生产

    我们能够根据欧州标准和美国标准制造生产探头,我们也可以根据各地的规范要求生产探头,也可以根据检测应用要求定制生产探头,如修改探头外壳设计、探头接口,以及晶片尺寸和形状,包括非标准频率、灵敏度、带宽和聚焦等性能。

     

    配送

    通过我们的全球分销站点和客户服务资源为您提供*佳配送方案,确保全程提供订单状态,直到探头到达您的手中。

     

    支持

    我们的专家资源可帮助您应对各种具有挑战性的超声检测应用需求,包括现场应用工程师和可以通过电话或电子邮件全天候与您联系的远程服务技术人员。我们的探头提供一年标准质保期。

     

    一般信息探头基本类型

    此产品目录中的超声探头传感器分为两大类,即接触式和水浸式入式。

    用于接触式检测方法的探头传感器

     

    直探头-单晶

    工件形状规则,检测面相对光滑

    适用于平面或带曲率接触面

    缺陷或底面与接触面平行

    用于检测厚度较大的工件

    延迟块探头能提高近表面分辨力

    需要耦合剂

    日常检测常用探头

     

    直探头直通波束 - 双晶片 (TR)

    通过隔声层使发射与接收晶片独立分开

    缺陷或底面与接触面平行

    用于检测厚度较小工件

    需要耦合剂

    日常检测常用探头

     

    度波束斜探头

    斜探头晶片与楔块一体或可拆卸

    横波或纵波以特定角度入射

    常用的斜探头为横波探头

    检测与入射声束垂直的缺陷

    有单晶与双晶斜探头

    需要耦合剂

    有时用于扫查器或自动扫查

     

    用于浸入式方法的传感器

     

    水浸探头浸入式传感器

    通过水耦合达到*佳耦合效果

    用于结构较规则工件

    常用于自动检测系统

    耦合效果稳定一致,检测结果可重复性好

    可用于扫查架,喷水式检测

    可以通过聚焦提高灵敏度和分辨力

     

    聚焦水浸探头入式传感器

    点聚焦模式

    线聚焦模式

     

    聚焦优势

    提高对小缺陷的敏感检测灵敏度

    球面形(点)聚焦 圆柱面(线)聚焦

     

    用于接触式检测方法的探头传感器直探头-单晶

    工件形状规则,检测面相对光滑

    适用于平面或带曲率接触面

    缺陷或底面与接触面平行

    用于检测厚度较大的工件

     

     

     

    传感器探头选择标准 - 北美标准

    根据美国标准制造的探头,Baker Hughes Inspection

    Technologies 提供三种系列探头: Alpha、Benchmark, 和

    Gamma 系列。 所有探头均根据 ASTM E-1065标准进行测试,

    测试报告提供波形和频谱等相关信息。

    建议用于对检测分辨率有较高要求的检测应用。

    适用于对分辨力要求高的厚度测量和近表面缺陷检测等应用。

    脉冲非常短,达到目前探头技术极限。

    灵敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探头。

    带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 50% 至 100%。

    典型的 Alpha 波形(右图)通常只有一到两个完整的回波周期

     

    Benchmark 系列探头功能

    晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 压电复合材料。

    对高衰减材料的穿透性远优于传统探头。

    对粗晶粒金属材料、碳纤维增强复合材料检测具有高信噪比。

    回波脉冲短 - 分辨率通常优于 Gamma 系列。

    灵敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探头。

    高带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 60% 至 120%。

    晶片低声阻抗提高了斜探头、延迟探头和水浸探头的性能,与塑料和水的声阻抗匹配效果好。

     

    Gamma 系列功能

    常用探头,适用于大多数日常检测应用要求。

    中脉冲、中阻尼 – 灵敏度和分辨率的优化组合。

    电子匹配性能确保较高的检测灵敏度,牲牺一定分辨力

    中带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 30% 至 50%。

    典型的 Gamma 波形会显示三到四个完整回波周期,取决于探头频率、探头直径和其他参数。

     

     


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