• OLYMPUS奥林巴斯超声波探头可选

    详细信息

     品牌:奥林巴斯  型号:可选  产地:美国  
     原理:声波反射  适用于:超声波主机  货期:现货  


    奥林巴斯超声波探头

    PANAMETRICSO超声探头
    我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的OlympusNDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分析等特殊应用的各种各样的定制探头。

    探头选择
    在任何超声系统中,探头都是一个非常关键的部件。在各种检测应用中,操作人员需要针对应用的具体要求,非常仔细地选择适当的探头。

    作为一个整体的系统的性能至关重要。而仪器的特性和设置,以及材料的特性和耦合条件在发挥系统的性能上也起到非常重要的作用。

    我们已经开发研制了三种不同系列的探头,用于满足不同应用的需要。每种系列探头都有其的性能。

    探头的配置也会对系统性能产生影响。在使用聚焦探头和适用于测试材料的带有防磨面的探头时,以及在选择探头的适当频率和晶片直径时,一定要考虑周全。

    以下三段总结对每种探头系列的性能特点进行了概括性描述。这些指导性说明非常有用,但是每项应用都具有,且探头的性能取决于电子设备、线缆、探头配置、频率及晶片直径这些因素。


    ACCUSCAN-S
    Accuscan-S系列探头可在轴向分辨率不是很重要的情况下提供的灵敏度。一般来说,这个系列的波形持续较长,频率带宽相对来说较窄。

    CENTRASCAN
    压电复合材料晶片Centrascan系列探头可在难于穿透的材料中提供的灵敏度和信噪比。对于塑料和其它低阻抗材料,它们具有的声匹配性能。

    VIDEOSCAN
    Videoscan探头是一种可以提供强阻尼宽带性能的非调谐的探头。在需要好的轴分辨率或距离分辨率的应用中,或在衰减性强或易散射的材料上进行对信噪比要求较高的测试中,这种探头是您选择。

    奥林巴斯超声波探头

    接触式探头:
    接触式探头是一个通常可生成纵波且与被测样件直接接触的单晶探头。所有接触式探头都装有WC-5防磨面,不仅具有超级防磨效果,可以延长探头寿命,还可以提供适合于大多数金属的声阻抗。请参阅第8页了解有关纵波接触式探头的更详细情况,还可参阅第17页了解有关垂直入射横波探头的信息。

    双晶探头:
    双晶探头包含两个纵波晶片(一个用作发送器,另一个用作接收器),两个晶片装于同一个外壳中,但中间有一层隔音屏障。每个晶片都稍微向另一个晶片倾斜,目的是使从工件底面反弹的信号以V形声程传播。双晶探头在检测严重腐蚀的工件时一般都能提供更稳定的读数,而且还可用于高温环境。参阅第10页了解有关用于探伤的双晶探头的更详细情况,还可参阅第30页了解有关与Olympus NDT腐蚀测厚仪一起使用的双晶探头的更详细情况。

    角度声束探头:
    角度声束探头是一种与楔块一起使用的单晶探头,可以所选的角度将纵波或横波发射到工件中。角度声束探头可以对工件中垂直入射接触式探头的超声声程无法到达的区域进行检测。角度声束探头一般用于焊缝检测,因为如果使用标准接触式探头,焊冠会挡住声波,使声波无法到达希望检测的焊缝区域,而且一般的缺陷对准操作会使角度声束产生更强的反射信号。

    延迟块探头:
    延迟块探头为单晶宽带接触式探头,其特殊的结构设计是在探头晶片前插有塑料或环氧材料制成的一个薄片。延迟块改进了工件近表面缺陷的分辨率,可以测量更薄的材料厚度,并能提供更精确的厚度测量结果。延迟块可根据工件的表面几何形状紧贴在工件上,而且还可用于高温应用中。

    保护面探头:
    保护面探头为一种带有螺纹外壳护套的单晶纵波探头,可以安装延迟块、防磨帽或保护膜。这个特点增强了探头的灵活通用性,可使这种探头用于范围极为广泛的应用中。保护面探头还可用作直接接触式探头,检测橡胶或塑料等低阻抗材料,以改进声阻抗的匹配效果。

    水浸探头:
    水浸探头为单晶纵波探头,其防磨面具有与水匹配的阻抗。水浸探头装在密封外壳中,在与防水线缆一起使用时,可以浸泡在水面以下。由于水浸探头将水用作耦合剂和延迟块,因此针对必须对工件施行持续耦合的扫查应用来说,这种探头是一种理想的探头。水浸探头还有一个附加选项,即可以通过增加特定区域的声强同时减少声束焦点大小的方式将声束聚焦。

    高频探头:
    高频探头包括延迟块探头和聚焦水浸探头。这些探头的频率范围在20 MHz至225MHz之间。高频延迟块探头可以对厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料进行厚度测量(取决于材料、探头、表面条件、温度和设置)。高频聚焦水浸探头是对硅制微型芯片等具有低衰减性的薄材料进行高分辨率成像和缺陷探测应用的理想探头。

     
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