贝克休斯 探伤仪欧规探头系列

贝克休斯 探伤仪欧规探头 系列

特点

持久耐磨的工作面

与金属匹配良好

比保护膜探头有更高增益余量

应用

用于检测结构简单的金属零件如大型锻件、铸件、坯料

小款探头用于管材、板材、棒材、储罐、小型锻件

叠层、分层结构、粘接检测

大型部件和难于穿透的材料检测

贝克休斯超声波探伤仪欧规探头

特点

持B…F系列

A=31 B=15

晶片直径20mm，带宽60，侧装LEMO 00接口

MB…F系列

晶片直径10mm，带宽60，侧装LEMO 00接口

K…G系列

晶片直径24mm，带宽40-80，侧装LEMO00接口

K…N系列

A=15B=31 C=26

晶片直径10mm，带宽40-80，侧装LEMO00接口

G…N系列

A=30B=37 C=40

晶片直径24mm，带宽>80，侧装LEMO00接口

G…KB系列

晶片直径10mm，带宽40-65，侧装Microdot接口

G2KB频率2MHz，晶片直径10mm，近场距离8mm

G5KB频率5MHz，晶片直径10mm，近场距离20mm

K…K系列

晶片直径5mm，带宽>80，侧装Microdot接口

G…K系列

A=11B=17

G5K频率5MHz，晶片直径5mm，近场距离5mm，带宽>80,侧装Microdot接口

G10K频率10MHz，晶片直径10mm，近场距离5mm，带宽>80,侧装Microdot接口