- 日本日立Hitachi光电直读光谱仪OE750/OE720
详细信息
品牌:日本日立Hitachi 型号:/OE720 加工定制:否 光源:光电 波长范围:119-670 nm 焦距:1200 分析时间:*** 气体要求:*** 外形尺寸:425*760*535 mm
简介
OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属*元素的全部光谱,并具有同类产品中较低的检出限。 由于行业法规日益严格,供应链变得复杂以及更多地使用废料作为基础材料,因此铸造厂和金属制造商必须将杂质和痕量元素控制在*低ppm范围内。在过去,这一级别的OES对许多企业而言是遥不可及。日立分析仪器推出的OE系列可改变这一现状。 日立直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素,并识别金属中含量较低的杂质、痕量元素和关心元素,OE750还覆盖了罕见的应用,例如铜中的氧气和钛中的氧气、氮气和氢气。 OE系列的测量速度快、可靠性高且运营成本低,可进行高性价比的日常分析和全面质量控制,其性能可与更大、更贵的光谱仪媲美。 *根据应用,有关更多详细信息,请索取我们的应用报告。
台式/落地式直读光谱仪是高性价比的金属分析,OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属元素的全部光谱,并具有同类产品中较低的检出限。
日本日立Hitachi光电直读光谱仪OE-750/OE-720技术参数- 类型
- 光学, 火花光发射
- 应用领域
- 用于实验室, 用于气体分析, 用于分析金属, 用于冶金产业, 用于铸造车间, 用于金属加工
- 配置
- 台式
- 其他特性
- 高解析度, 高精度
- 波长
-
*多: 766 nm
*少: 119 nm
- 长度
-
76 cm
(29.92 in) - 宽度
-
43 cm
(16.93 in) - 高度
-
54 cm, 125 cm
(21.26 in, 49.21 in)
光学系统
• LightWing 技术: Paschen-Runge装置的多CMOS光学系统和优化的像素分辨率
• 焦距: 400 mm
• 波长: OE720: 174-670* nm / OE750: 119-670* nm (*按需求可至766 nm)
• 波长实时校准
电源
• E100 - 240V AC 50/60 Hz
• *大功率: 430 W
• 待机功率 45 W (光源打开时功率 : 50 W)
产品优势
•覆盖所有元素,以低检出限进行完整的金属分析
•高光学分辨率,可控制杂质和痕量元素
•出色的长期稳定性、精度和准确性
•OE750:分析气体(钛中的氢和氧,铜中的氧)
•购买价格和运行成本合理,性能可与更昂贵的分析仪相提并论
•包括全面的金属数据库,可快速,轻松地识别牌号
•可选的进料校正软件可实现较佳过程控制
•与基于云的数据管理的连接
应用行业
• 过程的质量控制和冶炼的验证:分析模式/牌号鉴定
• 为所有相关的合金、残留物、处理、痕量元素和杂质元素提供较低检出限
• 铁:合金、铸铁,氮含量低至10 ppm (仅OE750)
• 铝:合金、铸造合金、锻造合金……
• 铜:青铜、黄铜、白铜……
• 镍:哈氏合金、Inconel合金、蒙乃尔合金,氮元素低至20 ppm
• 钛:纯钛、钛6-4、钛8-锰,包括氢、氧、氮等气体元素 (仅OE750)
• 镁、钴、铅、锡、锌合金、焊料及其他
新型OE750是一款突破性的新型OES金属分析仪。其涵盖了金属元素的全部光谱,并具有同类产品中zui*低的检出限。
由于行业法规日益严格,供应链变得复杂以及更多地使用废料作为基础材料,因此铸造厂和金属制造商必须将杂质和痕量元素控制在zui*低ppm范围内。在过去,这一级别的OES对许多企业而言是遥不可及。日立分析仪器推出的新型OE750可改变这一现状。
这款直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素,并识别金属中含量极低的杂质、痕量元素和处理元素,如钢中的氮。 OE750的测量速度快、可靠性高且运营成本低,可进行高性价比的日常分析和全面质量控制,其性能可与更大、更贵的光谱仪媲美。
为什么选择OE750?1. 值得信赖的结果在同类产品中控制杂质和痕量元素的光学分辨率zui*高。
2. L综合成本低负担得起的购买和运行成本,提供更贵分析仪器所具备的性能。
3. 保持运行不间断设计可靠,维护和标准化要求极低。
4. 支持连续生产分析速度快,启动时间短,可快速反馈熔液质量。
只需一台价格合理的OE750设备,就能提供快速全面的金属质量分析,满足您所有的需求。 -
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