日立X射线荧光分析仪X-MET8000 Geo

X-MET⁸000 Geo是一款X射线荧光分析仪(XRF),用于在现场进行环境土壤和沉积物筛选。该仪器可快速执行大量分析并完成测试程序，有助于大幅度降低对实验室分析的需求以及相关的成本。

我们的革命性BOOSTTM技术可提供快速精确测量关键元素(例如，US EPA Method6200 RCRA和优先元素)所需的低检测限。

X-MET集成了GPS,可将地理位置数据与分析结果相结合，实现完美的现场地图绘制。该仪器也与Trimble接收器配合，获得更准确的位置数据。

为什么 X-MET8000 Geo 是您企业的理想之选

现场测量和筛选

在具有多个测量点的区域使用X - MET，有助于现场决策，不必为了等待实验室结果而暂停工作。 

几秒钟内显示结果

采用我们的标准土壤校准可同时测量多达40种元素，几秒钟内显示结果，所需样品制备量*小。 

*少培训

具备“一键即测”的简单操作。开箱即可使用。

舒适

重量轻（1.5 kg）、出色的人体工学设计和长达10 - 12小时的电池寿命可确保工作流程不会出现中断，且疲劳度降至*低。 

经济成本低

X-MET可承受*恶劣的环境和天气条件，其具备 IP54防护等级（相当于NEMA3），有着超高的防尘和防水性能。该分析仪符合MIL-STD-810G强度标

准。

高级数据管理

多种报告格式可选，可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到 PC上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享。

您可以随时使用我们的ExTOPE Connect移动应用程序共享结果，我们的云服务使您能够实时安全地导出结果、照片和GPS坐标。甚至可以用单个账户管理一系列X- MET的结果。

X-MET8000 Smart
X射线管：40kV
滤光片：单一
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：400ºC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏
校准：基本参数法(FP)
内置摄像头 （可选）


X-MET8000 Optimum
X射线管：40kV or 50kV
滤光片：6位滤光转换器
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准：基本参数法 （包括轻元素分析）
内置摄像头（可选）
小光班准直器（可选）
针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片


X-MET8000 Expert
X射线管：50kV
滤光片：6位滤光转换器
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）
内置摄像头
小光班准直器 （可选) 
针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片

 

可选附件

我们提供全系列附件以简化测试工作。

辅助杆

对于难以到达的分析地点，改进测量人体工学设计的 X-MET 杆提供了简单的解决方

案。需要在表面面积很大的区域进行测量时，X-MET 杆可提供帮助。

两脚架

需要较长的分析时间时，即超过 30 秒，使用两脚架可解放双手。

台式支架

从便携式到台式配置，数秒内将 X-MET8000 变身成台式仪器，满足用户大量样品测定及操作安全，同时提高分析数据准确性及检出限。

辐射防护

*小化散射辐射。轻型支架和安全护罩用于粉末的快速分析。可放入X-MET机箱，完全便于携带。

便携式蓝牙打印机

将结果打印在纸张或不干胶标签上，并贴在试样上；方便且不会混淆。

皮套和皮带

分析仪的免提现场携带装置 。可快速更换的防护窗口我们可快速更换的防护窗口意味着无需使用任何工具便可更换已损坏或玷污的窗口，避免探测器损坏和高昂的维修成本。

日立产品系列包括

微焦斑XRF镀层分析仪：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。

RoHS分析仪：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专为“有害物质限制”分析而设计，快速且易用，其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。

​及时的样品分析对于环境筛选操作而言至关重要，可以快速准确地收集修复和评估数据。