HITACHI 日立便携式荧光光谱仪X-MET8000

日立便携式荧光光谱仪X-MET8000

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。

该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。

借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，缩短检测时间。


为什么 X-MET8000 是您企业的理想之选？

分析结果值得您信任
X-MET8000 结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法（可溯源的标准物质），可提供超高的分析精密度和准确度。

性能优异
该分析仪提供对轻元素（Mg 到 S）的出色分析，可快速测试大多数商业用合金，包括铝合金、硅和铝青铜等。其提供低检测限制，可准确区别相近牌号（例如 303-304、6061-6063），并可在数秒内得到实验室质
检结果。

易于操作
直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任何培训。该分析仪拥有便于快速制定决策的可自定义
结果屏幕，同时显示您所需的重要信息。
该分析仪具备轻便性（1.5 千克），采用了符合人体工学的设计，因此操作舒适，适合日常使用。屏幕方便
操作员阅读，即使在阳光直射下也不受影响，且可在穿戴手套的情况下操作。

准确
样品尺寸自动补偿，可准确测试直径小至 1 毫米的管材、杆体、线材，以及焊缝、紧固件、车削下脚和碎屑等。


结构旨在经久耐用
X-MET8000 具备 IP54 防护等级（相当于 NEMA3），有防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到撞击。采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口（Expert 及 Optimum 型号的选购件）和高强度厚 Kapton® 窗口（Smart 型号）可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。

强大的数据管理功能
可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（若配备相机）结果和报告可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到 PC 上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以
包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。

全面的、可自定义的牌号库
X-MET8000 内含有全面的牌号库：预安装的、用户可选的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号（例如某个厂商或者产地特定牌号），或者创建自己的牌号库（例如特定的焊接材料牌号库）。

预装牌号库包括
| 镍合金。
| 不锈钢。
| 铜合金。
| 铝合金。
| 钴合金。
| 低合金钢。
| 工具钢。
| 钛合金。
| 锆合金。
| 等。


X-MET8000 Smart
X射线管：40kV
滤光片：单一
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：400ºC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏
校准：基本参数法(FP)
内置摄像头 （可选）

X-MET8000 Optimum
X射线管：40kV or 50kV
滤光片：6位滤光转换器
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准：基本参数法 （包括轻元素分析）
内置摄像头（可选）
小光班准直器（可选）
针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片

X-MET8000 Expert
X射线管：50kV
滤光片：6位滤光转换器
检测器：大面积 SDD
*高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）
内置摄像头
小光班准直器 （可选) 
针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片

日立便携式荧光光谱仪X-MET8000参数