日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

详细信息

品牌：日立HITACHI	型号：X-MET8000	加工定制：否
光源：X射线	波长范围：1610 nm	焦距：400 mm
外形尺寸：300 mm	重量：1500 g	适用范围：土壤金属元素分析仪

日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

简介
数秒内得到实验室质检结果，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。

应用广泛

废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。

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