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- 美国通用GE特殊探头G20MN
详细信息
品牌：美国通用 型号：G20MN 加工定制：否 用途：探伤仪测厚仪探头 是否进口：是 产地：美国 美国通用GE特殊探头G20MN
主要特性：
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
特殊应用场地检测探头 这里介绍的是已经在许多超声检测领域获得成功应用的特殊探头，它们都已经通过检测验证，得到用户的肯定, 并且可以根据客户需要定制.特殊探头 能为您解决特殊检测问题 ① RB…,MRB…型 用于管道周向检测的斜探头，能够同时从两个周向检测管道的。Lemo00接头。 ② IR…型 从管道内部检测缺陷或测量厚度。 ③ Z4R6X6/6X 多晶片探头—4MHz，6个6x6mm晶片水浸探头，带2.5m探头线。我们也能提供其他频率，晶片尺寸和晶片数量的探头，相应的多晶片斜探头可以用来检测横向缺陷。 ④ IALF10…型 1 0 M H z水浸探头，园柱曲面，晶片宽3 0 m m ， 由P V D F 材料制成， 带1 . 5 m
Lemo1接口探头线。可提供其他频率和晶片尺寸的探头。铁轨检测 注释:
SESZS…型和SESZW…型都适用于铁轨检测系统自动检测。用于坯饼检测时请参
考第6页，板坯检测。关于其他的检测问题，请联系我们的技术人员。① SESZS…型 4MHz双晶直探头， 0.95m探头线，Lemo接头。 ② SESZW…型 双晶斜探头，声束同时向前，向后70º入射，2MHz，带0.75m探头线，Lemo1接头。 ③ WB45-01型 45º斜探头，1MHz，顶端带Lemo1接头；套在夹具上组成前后串联式检测铁轨。 用于轴承和轮轴 注释:
对于粗晶材料(由于晶粒散射而导致信噪比差)，请参照第1 5页“粗晶结构材料的检测”。关于特大轴承检测请参照第
6页“大型部件检测”。① B2S-0A…型 1MHz，2MHZ，4MHZ斜探头，晶片直径24mm，可更换保护膜。通过不同角度延迟块得到7º 14º 21º 28º 纵波斜探头。顶
部Lemo1接头。尤其适用于检测大轴承偏心位置的体积型缺陷。② AW…型 斜探头，延迟块可更换，2MHZ，晶片直径24mm，Lemo1接头；适用于横波探伤，探头接触面可与曲面耦合。 ③ ASW…型 斜探头，用横波检测轮轴中心孔，带有2m探头线，Lemo1插头一个。 ④ B…S, MB…S 直探头，可提供各种频率，晶片直径为10mm和24mm，带延迟块。B…S型为L emo 1接头，MB…S探头为L emo 0 0接头。 ⑤ Z2GB1, Z4NB5 带延迟块的纵波斜探头，专为电梯轴承检测设计，与Lemo 00插头匹配。 用于板坯 ① SEZ4R10…型 双晶4MHz探头，声束宽度约为50mm，由一个发射晶片和3个接收晶片组成，一根探头线，带有4个Lemo1接头。 ② B…S-O型 提供各种频率的直探头， 可更换保护膜，顶部Lemo1接头。例如用于检测平板辊筒。 ③ SEZ4N30V，SEB4TV型 4MHz双晶探头，2.5m带Lemo1接头探头线一根，即使在不断升高的温度下也适用于检测平板辊筒。 ④ UWB… 1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可调斜探头，可以得到纵波和横波， 配有L e m o 1接口，用于产生兰姆波。 ⑤ 5Z6X27ND型 双晶5MHZ探头，声束宽度约为25mm，带Lemo1接头的探头线，尤其适合板材边缘检测。 用于大型部件 ① NQP…型 用于直接接触法的聚焦直探头，2 M H Z，晶片直径3 4 m m，5 0 m m，或75mm，深度越深处，焦点直径越小，
Lemo1接头。尤其适用于各个方向的相邻缺陷。② WQP…型 聚焦斜探头， 晶片直径3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深处，焦点直径越小，Lemo1接头。 ③ SEB…G型 双晶探头，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接头。 ④ GRST…型 相控阵探头，声束焦点和角度可变，可用于自动检测系统。 用于特殊形状工件 例如飞机零件
① G…MN，G…KS型多种频率高分辨率的直探头， 可更换延迟块， M i c r o d o t 接头， G … K S 为L emo 0 0探头。例如用于涡轮叶片冷却
壁测量。检测塑料时， 延迟块可根据实际使用环境设计， 使延迟块跟工件完美耦合， 消除界面回波（ 0 界面探头） 。② H…MN…F型 高分辨率水浸探头，多种频率和晶片直径可选，探头带有喷水耦合的喷嘴和防水L emo 0 3接头；例如用于涡轮叶片的厚度测量。 ③ SMWB… 小晶片斜探头，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接头；例如检测铆钉孔的裂纹，也可用串联式技术检测。 用于混凝土，石头，和木材 ①B0.05N，B0.05U…型 直探头， 5 0 K H Z ， 接触面3 0 m m 和55mm，信号衰减弱，Lemo1接头；只能用于穿透式检测。我们可以提供更高频率探头。 ② B0.05NN型 直探头，50KHZ，探头通过增强杆增强超声信号，声束传播直径大，Lemo1接头，只适用于穿透式软质材料的检测(如木材）。 ③ K0.1G，K0.25G型 100KHZ和250KHZ直探头，接触面直径45mm，阻尼性好，例如脉冲持续时间短，防水Lemo1接头；在脉冲回波模式可用于精确测量超声传播时间。 ④ B…SL，G0.5G型 250 kHz，500 kHz，1 MHz直探头，各种晶片尺寸可选，Lemo1接头。 用于陶瓷（如绝缘材料） ① K…G，K…N 型 高分辨率直探头， 提供各种频率， 晶片直径24mm和10mm，耐磨接触面和Lemo00接头。 ② IB… 2MHZ或4MHZ，Lemo00接头，窄外壳设计使得探头能进入伞形绝缘体的缝隙中。 ③ IW…B… 4MHZ 斜探头，Lemo00接头。入射角取决于缺陷位置和探头耦合点。 用于简单复合纤维塑料 ① G…NS，G…KS型 各种频率冲击波直探头， 晶片尺寸可选， 通过螺纹固定保护膜或延迟块，L emo 0 0接头。可以根据工件材料设计延迟块，尽量消除界面波的影响（0界面探头）。也适用于带涂层工件的厚度测量 ② CA212，CA214 高分辨率直探头，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接头，通过螺纹固定保护膜或延迟块，适用于带涂层工件的厚度测量。 ③ W70B2GT型 70º斜探头，频率为2MHZ，Lemo00接头，适合检测PE和PVC材料。65º斜探头可用于检测大厚度材料，WB 7 0 - 1适合厚度更大的材料。 ④ G…N，G…KB 各种频率冲击波直探头， 晶片尺寸可选，Lemo00接头，耐磨接触面。 用于点焊检测 ① G20MN…型 高分辨率直探头， P V D F 晶片，20MHZ，Microdot接头和水延迟线，由可更换弹性保护膜密封， 用于点焊检测；晶片尺寸取决于点焊焊核，可以用15MHZ探头检测更大厚度的点焊。更多详情请看特别版SD272。 用于精密部件检测 ① G…MN型 各种频率冲击波探头，晶片直径可选，Microdot接头，可更换延迟块；尤其适用于点焊检测。 ② H…NA，H…KA，H…MA型 各种频率， 晶片尺寸可选的水浸冲击波探头，H…N，H…K带2.5m探头线，H…M带1.5m探头线，Lemo00接头；尤其适合厚度测量。 ③H...KP...F, H...MP...F型 各种频率， 晶片尺寸， 焦距可选的高分辨率水浸探头，防水L emo 0 3接头，并附有用于机械自动检测的喷水耦合喷嘴
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