美国GE贝克休斯探头IA5.8

美国GE贝克休斯探头IA5.8

详细信息

	品牌：美国GE		型号：IA5.8		加工定制：否
	用途：探伤仪测厚仪探头		是否进口：是		产地：美国

美国GE贝克休斯探头IA5.8

主要特性
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。

探头分为两大类：接触式和水浸式

接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测

水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果

美国GE测厚探头此探头具有*佳分辨力可以检测试块近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度处能够检测φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超声探伤仪（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值频率误差<10%可用于市场上的大多数液浸检测系统。

IA/AP液浸探伤首选探头	根据国际标准（如：NDT-111-A或者SIM-1K），此探头具有*佳分辨力可以检测试块近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度处能够检测φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超声探伤仪（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值频率误差<10%可用于市场上的大多数液浸检测系统。
IA 5.8 IAP 5.12.6 IAP 10.6.3 IAP 15.6.2
测厚首选探头	短脉冲冲击波探头· 高分辨力和灵敏度· 能够测量的*小厚度为0.2mm（钢）· 频率误差<10%· 可用点聚焦或者线聚焦
H 1N H 2N H 2K H 5K H 10K H 5M H 10M

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