- 美国GE贝克休斯高温检测探头K4G
详细信息
品牌:美国GE 型号:K4G 加工定制:否 用途:探伤仪测厚仪探头 是否进口:是 产地:美国
主要特性
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
通过与德国联邦材料检测研究所(BAM)合作,*新研制的斜探头和双晶探头可连续工作至250℃。当接触面温度升高到250℃以上时,测量后的探头必需降底温度。斜探头允许的*大接触温度大约是350℃,但是在如此高的温度下延迟块性能会受到一定的影响。此外,双晶直探头可以承受的*高接触温度大约为800℃。根据温度的不同,选用的偶合剂也不同:Z G T 可以达到2 5 0℃,而Z G M可以达到550℃。在超过550℃的温度下,可以用玻璃粉偶合。这些特殊设计的探头同样可以在-197℃的低温下进行测量。
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