• 美国GE贝克休斯探伤仪高温测头SEB4KVW70B4GV

    详细信息

     品牌:美国GE  型号:W70B4GV  加工定制:否  
     用途:探伤仪测厚仪探头  是否进口:是  产地:美国  
    美国GE贝克休斯高温测头SEB4KV W70B4GV

    通过与德国联邦材料检测研究所(BAM)合作,*新研制的斜探头和双晶探头可连续工作至250℃。当接触面温度升高到250℃以上时,测量后的探头必需降底温度。斜探头允许的*大接触温度大约是350℃,但是在如此高的温度下延迟块性能会受到一定的影响。此外,双晶直探头可以承受的*高接触温度大约为800℃。根据温度的不同,选用的偶合剂也不同:Z G T 可以达到2 5 0℃,而Z G M可以达到550℃。在超过550℃的温度下,可以用玻璃粉偶合。这些特殊设计的探头同样可以在-197℃的低温下进行测量。

    参数
    斜探头 附:探头电缆线MPKL2-V,编号:65261在150℃,入射角根据温度的变化而变化。大约是,在45℃下变化为0.260/10℃,在60℃和70℃下变化为0.50/10℃
    W45B2GV
    W60B2GV
    W70B2GV
    W45B4GV
    W60B4GV
    W70B4GV
     
    双晶直探头 附:2 x探头电缆线MPKL2-V,编号:65261
    SE B4 KV  
    超声探头高性能硬质陶瓷接触式直探头
    典型的波宽:75%  
    K1G
    K2G
    K4G
    K2N
    K4N
    K5N
    K6N
     
    典型的波宽:100%  
    G1N
    G2N
    G4N
    G2KB
    G5KB
     
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