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- 美国GE贝克休斯粗晶探头VRY70
详细信息
品牌：美国GE 型号：VRY70 加工定制：否 用途：探伤仪测厚仪探头 是否进口：是 产地：美国 美国GE贝克休斯粗晶探头VRY70
主要特性
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
美国GE粗晶探头对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。具有可更换保护膜的直探头 频率（MHZ） 接触面（mm） 尺寸Φ(mm) K 0.5 S 0.5 40 34 高阻尼 K 1 S 1 40 34 高灵敏度 K 1 SM 1 33 28 非常好的信噪比 B 0.5 SL 0.5 40 34 非常好的灵敏度 B 1 SL 1 40 34 高阻尼，高信噪比 K 1 SC 1 30 24 复合材料压电晶片 K 1 SC 2 30 24 *好的灵敏度和信噪比 纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片 频率（MHZ） 接触面（mm） 角度（ °） 深度范围 要求的探头线 WRY 45
WRY 60
WRY 70
WSY 45-2
WSY 60-2
WSY 70-2
WSY 45-4
WSY 60-4
WSY 70-42
2
2
2
2
2
4
4
448 x 25
48 x 25
48 x 25
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 1345
60
70
45
60
70
45
60
705 – 100
5 – 80
5 – 55
6 – 25
4 – 20
3 – 15
3 – 30
3 – 20
2 - 15} MPKL 2
} MPKL 2
} MPKL 2双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片 频率（MHZ） 接触面（mm） 角度（ °） 深度范围 VRY 45
VRY 60
VRY 70
VSY 45
VSY 60
VSY 701,8
1,8
1,8
4
4453 x 29
53 x 29
53 x 29
30 x 15
30 x 15
30 x 1545
60
70
45
60
7015 – 70
10 – 60
5 – 45
2 – 30
1.5 – 20
1.5 - 20} SEKL 2
} SEKN 2 -
-
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