美国GE贝克休斯粗晶探头WSY70-4

美国GE贝克休斯粗晶探头WSY70-4

详细信息

	品牌：美国GE		型号：WSY70-4		加工定制：否
	用途：探伤仪测厚仪探头		是否进口：是		产地：美国

美国GE贝克休斯粗晶探头WSY70-4

主要特性
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。

探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测

水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果

美国GE粗晶探头对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。

具有可更换保护膜的直探头	频率（MHZ）	接触面（mm）	尺寸Φ(mm)
K 0.5 S	0.5	40	34	高阻尼
K 1 S	1	40	34	高灵敏度
K 1 SM	1	33	28	非常好的信噪比
B 0.5 SL	0.5	40	34	非常好的灵敏度
B 1 SL	1	40	34	高阻尼，高信噪比
K 1 SC	1	30	24	复合材料压电晶片
K 1 SC	2	30	24	*好的灵敏度和信噪比
纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片	频率（MHZ）	接触面（mm）	角度（ °）	深度范围	要求的探头线
WRY 45 WRY 60 WRY 70 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 70-2 WSY 45-4 WSY 60-4 WSY 70-4	2 2 2 2 2 2 4 4 4	48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13	45 60 70 45 60 70 45 60 70	5 – 100 5 – 80 5 – 55 6 – 25 4 – 20 3 – 15 3 – 30 3 – 20 2 - 15	} MPKL 2 } MPKL 2 } MPKL 2
双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片	频率（MHZ）	接触面（mm）	角度（ °）	深度范围
VRY 45 VRY 60 VRY 70 VSY 45 VSY 60 VSY 70	1,8 1,8 1,8 4 44	53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15	45 60 70 45 60 70	15 – 70 10 – 60 5 – 45 2 – 30 1.5 – 20 1.5 - 20	} SEKL 2 } SEKN 2

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