美国贝克休斯GE超声粗晶探头B0.5SL
详细信息
| 品牌:美国贝克休斯 | | 型号:B0.5SL | | 加工定制:否 | |
| 用途:探伤仪测厚仪探头 | | 是否进口:是 | | 产地:美国 | |
美国贝克休斯GE超声粗晶探头B0.5SL
主要特性
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
美国GE粗晶探头 对于普通探头,由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致,这样容易造成缺陷漏检。所以,检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝,并得到一些满意的结果,这主要取决于被检测材料的声学特性。
具有可更换保护膜的直探头 |
频率(MHZ) |
接触面(mm) |
尺寸Φ(mm) |
|
K 0.5 S |
0.5 |
40 |
34 |
高阻尼 |
|
K 1 S |
1 |
40 |
34 |
高灵敏度 |
K 1 SM |
1 |
33 |
28 |
非常好的信噪比 |
B 0.5 SL |
0.5 |
40 |
34 |
非常好的灵敏度 |
B 1 SL |
1 |
40 |
34 |
高阻尼,高信噪比 |
K 1 SC |
1 |
30 |
24 |
复合材料压电晶片 |
K 1 SC |
2 |
30 |
24 |
*好的灵敏度和信噪比 |
纵波斜探头—单晶系列,复合材料压电晶片 |
频率(MHZ) |
接触面(mm) |
角度( °) |
深度范围 |
要求的探头线 |
WRY 45
WRY 60
WRY 70
WSY 45-2
WSY 60-2
WSY 70-2
WSY 45-4
WSY 60-4
WSY 70-4 |
2
2
2
2
2
2
4
4
4 |
48 x 25
48 x 25
48 x 25
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13 |
45
60
70
45
60
70
45
60
70 |
5 – 100
5 – 80
5 – 55
6 – 25
4 – 20
3 – 15
3 – 30
3 – 20
2 - 15 |
} MPKL 2
} MPKL 2
} MPKL 2 |
双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片 |
频率(MHZ) |
接触面(mm) |
角度( °) |
深度范围 |
|
VRY 45
VRY 60
VRY 70
VSY 45
VSY 60
VSY 70 |
1,8
1,8
1,8
4
44 |
53 x 29
53 x 29
53 x 29
30 x 15
30 x 15
30 x 15 |
45
60
70
45
60
70 |
15 – 70
10 – 60
5 – 45
2 – 30
1.5 – 20
1.5 - 20 |
} SEKL 2
} SEKN 2 |