• 美国贝克休斯GE探伤仪粗晶探头K0.5S

    详细信息

     品牌:美国贝克休斯  型号:K0.5S  加工定制:否  
     用途:探伤仪测厚仪探头  是否进口:是  产地:美国  
    美国贝克休斯GE探伤仪粗晶探头K0.5S

    探头分为两大类:接触式和水浸式

    接触法探头
    直探头---单晶
    ·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
    ·接触面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·适于穿透厚部件
    ·延迟块用以提高近场分辨率
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    直探头--双晶
    ·接受发射单元用串扰挡板分开
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·近表面分辨率好,用于较薄部件
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    斜探头
    ·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
    ·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
    ·大多数标准探头通过模式转换产生横波
    ·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
    ·有单晶探头和双晶探头
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·有时用于机械化或自动化检测

    水浸法探头
    水浸探头
    ·在水中匹配好,效率高
    ·适于具有不规则表面的被检测件
    ·通常用于机械化或者自动化检测
    ·耦合一致性好,检测重复性高
    ·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
    ·探头聚焦可以增进效果

    美国GE粗晶探头
    对于普通探头,由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致,这样容易造成缺陷漏检。所以,检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝,并得到一些满意的结果,这主要取决于被检测材料的声学特性。

     
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