- 美国GE贝克休斯测厚仪探头SEB4
详细信息
品牌：美国GE 型号：SEB4 加工定制：否 用途：探伤仪测厚仪探头 是否进口：是 产地：美国 美国GE贝克休斯测厚仪探头
应用
•结构规则简单的大型工件检测
•锻件、坯料检测
•板材、棒材、方型材
•容器、机器零部、外壳
•在高温下用延迟块检测
功能特和优势
•欧式型号具有可更换的软保护膜：
– 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合
– 延长探头使用寿命。
– 适用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高温延迟块
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器，标准探头连接器安装在侧面，顶部接口可选
•美式型号具有可更换的软保护膜：
– 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。
– 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。
– 高温延迟块可在*高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。
– BNC 连接器，侧面或顶部安装
这些探头基本上能满足所有常规检测要求。这些常规探头都能用于各种标准超声探伤仪。这些探头性能优越，可靠性高，能满足非常严格的应用要求，精度高，我们探头的技术参数都能控制在允许的误差范围内。双晶探头 型号 频率（MHZ） 换能器尺寸（mm） 尺寸Φ(mm) 高度（mm） SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65 MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45 SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17 直探头 B+S
MB*S1, 2, 4, 5
2, 4, 524
1045
2559
43K*G
K*N
K*K1, 2, 4, 6
2, 4, 6, 10
2, 5, 10, 1524
10
545
25
1160
43
17B*F
MB*F1, 2, 4, 5
2, 4, 5, 6, 1020
1031
1915
15斜探头 频率（MHZ） 晶片尺寸（mm×mm） 长 宽 高 WB 35-*
WB 45-*
WB 60-*
WB 70-*
WB 80-*
WB 90-*
MWB 35-*
MWB 45-*
MWB 60-*
MWB 70-*
MWB 80-*
MWB 90-*2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
2, 4
2
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
420 x 22
8 x 9
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
27
27
27
27
27
2729
29
29
29
29
29
15
15
15
15
15
1545
45
45
45
45
45
22
22
22
22
22
22
美国GE贝克休斯超声波探头
主要特性：
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果 -
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￥5500.00
- 产品型号：SEB4
- 品 牌：美国GE
- 所 在 地：广东深圳
- 更新日期：2025-06-17
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