V374-SU超声波探伤仪探头美国泛美

V374-SU超声波探伤仪探头美国泛美

详细信息

品牌：美国泛美	型号：V374-SU	加工定制：否
类型：超声波	测量范围：10	分辨率：20*22
尺寸：12 mm	重量：0.05 kg

V374-SU超声波探头美国泛美
优势
• 强阻尼宽带设计提供了极佳的时间分辨率。
• 短波长可获得极强的缺陷分辨率能力。
• 直径极小的声束也可以聚焦。
• 频率范围为20 MHz到225 MHz。
应用
• 高分辨率缺陷探测，如：微孔隙检测或微裂纹检测。
• 表面断裂或不平整性的C扫描成像。
• 可测量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可对陶瓷及高级工程材料进行检测。
• 可对材料进行分析。
*厚度范围取决于材料、探头、表面条件、温度及所选的的设置。
高频标准水浸外壳
• 永久熔融石英延迟块。
• 聚焦单元使用一个高质量的光学研磨透镜。
• F202适配器可固定被动UHF连接器和主动Microdot连接器
• 将高频率和小外壳设计的特点结合在一起。
参阅型号规格:

频率	标称晶片尺寸		延迟	聚焦长度		探头工件编号
MHz	英寸	毫米	微秒	英寸	毫米	探头工件编号
20	0.25	6	4.25	平		V354-SU
	0.25	6	2.5	0.75	19	V372-SU
	0.25	6	4.25	1.25	32	V373-SU
	0.25	6	4.25	2	51	V374-SU
30	0.25	6	4.25	平		V356-SU
	0.25	6	2.25	0.75	19	V375-SU
	0.25	6	4.25	1.25	32	V376-SU
	0.25	6	4.25	2	51	V377-SU
50	0.25	6	4.25	平		V358-SU

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