• 美国GE贝克休斯低频探头K0.25G

    详细信息

     品牌:美国GE  型号:K0.25G  加工定制:否  
     用途:探伤仪测厚仪探头  是否进口:是  产地:美国  
    美国GE贝克休斯低频探头K0.25G

    应用
    •结构规则简单的大型工件检测
    •锻件、坯料检测
    •板材、棒材、方型材
    •容器、机器零部、外壳
    •在高温下用延迟块检测

    功能特和优势
    •欧式型号具有可更换的软保护膜:
    – 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合
    – 延长探头使用寿命。
    – 适用于 DGS 缺陷定量方法
    – 提供高温延迟块
    – Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器,标准探头连接器安装在侧面,顶部接口可选
    •美式型号具有可更换的软保护膜:
    – 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。
    – 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。
    – 高温延迟块可在*高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。
    – BNC 连接器,侧面或顶部安装

    这些频率低于0.5 MHz的探头用于测试具有强声波吸收特性的材料如陶瓷戽斗插头、天然石、烤炉石、木材、橡胶和水泥等,在低于0.1MHz的频率下利用发射器探头和接收器探头进行信号传输。USD10NF特别适合于这类任务。

     
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