美国GE测厚探头CLF5

美国GE测厚探头CLF5

详细信息

	品牌：美国GE		型号：CLF5		加工定制：否
	用途：适合于壁厚测量		是否进口：是

美国GE测厚探头CLF5

用于壁厚测量的探头，特别地与我们的数字测厚仪相匹配。

测厚仪	量程 [mm]	订购号码	接触面积Ø [mm]	f [MHz]	备注
CL304/ CL3DL	0.13-5 0.18-25 1.6-250 1.6-380 1.6-25 0.125-	Alpha 2A Mini DFR CLF4 CLF5 CA211A CA215 Alpha DFR-P	5 7.5 9.5 19 13 7.5	20 15 10 5 5 22	可更换的延迟线118-440-043 可更换的延迟线CLFV1 在塑料上测量，延迟线DFR-PV1
CL304	3-500	CA214	15	5	对于表现强声波衰减性的材料，根据要求配置可互换保护膜和延迟线

在高于60℃温度下测量时，有特殊的延迟线。

美国GE超声波探头
主要特性：
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外）
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。

探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果

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