| 品牌:美国GE | | 型号:IAP-..25.2.1 | | 加工定制:否 | |
| 用途:适合于壁厚测量 | | 是否进口:是 | | | |
美国GE高频直探头IAP25.2.1
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力
注释:
粗体=首选探头,带简短注释说明
= 提供探头数据表
= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。
类型
[订购号码] |
D [mm] |
f [MHz] F [mm] |
AB6/1 [mm] |
N / |
FD6 1) [mm] |
声束形状
编号 |
草图 |
点聚焦,带UHF或Microdot连接器 *);特性带宽:100% |
IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.2 |
3
3
5
5
3
3
3
5
5 |
25
25
25
25
50
50
50
50
50 |
9.4-20.6
16-60
20-35
34.5-100
6.6-8.4
10.6-15.8
18.5-41
21.5-29
40-71 |
12.5
25
25
50
7.5
12.5
25
25
50 |
0.25
0.49
0.30
0.59
0.07
0.12
0.25
0.15
0.30 |
-
-
-
-
-
-
-
-
- |
类型F
或
类型FM |
非聚焦,带UHF或Microdot连接器 *);特性带宽:100% |
IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.3 |
3
5
3
5 |
25
25
50
50 |
17-86
45-227
33-170
89-455 |
36
99
71
198 |
0.7
1.2
0.7
1.2 |
25-3
25-5
50-3
50-5 |
类型F
或
类型FM |
*) 订购号码中的".."是用于根据需要进行的设计,填入下面的字符:F表示是带UHF连接器的牢固的壳体;FM表示是带Microdot连接器的轻便的壳体。
1) 请注意第5页上的定义。
附件描述 |
类型 |
备注 |
探头电缆:
Microdot / BNC
适配器:
BNC插座/ Lemo插头探头电缆:
UHF/BNC适配器 |
PKI-S0.75
PKLB1
PKIB0.75
ANP21 |
用于
IA(P)-FM 25/50
用于PKIS..和PKIB..
用于带UHF和BNC的IA(P) -
F25/50伸缩管 |
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果