美国GE水密封体直探头L2N

美国GE水密封体直探头L2N

主要用途：
通常：通过一个水延迟通道，以可能*好的测试结果复现性，实现流水线或大批量生产零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料组织的半自动和全自动测试。

特性：极好的分辨率和非常好的缺陷探测性
注释：                      
粗体=首选探头，带简短注释说明
= 提供探头数据表
= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。

类型 [订购号码]	D [mm]	f [MHz]	AB [mm]	N F [mm] /	近场分辨率1) [mm]	声束形状 编号	备注	草图
缺陷探测的高分辨率探头，UHF插座，特性带宽：80%
IA5.8 IAP5.12.6 IAP10.6.3 IAP15.6.2	12.7 19 9.5 9.5	5 5 10 15	60-190 115-225 55-130 40-65	130 150 75 50	ZYB 0.5Ø in 3 ZYB 0.5Ø in 1.5 FBB 0.4Ø in 1.3 FBB 0.4Ø in 1.0	5-12.7 - - -	点聚焦 点聚焦 点聚焦	类型39 类型40 类型39 类型39
带固定电缆的冲击波探头，特性带宽：100%
H1N H2N	20 20	1 2	28-156 50-267	64 127	FBB 5Ø in19 FBB 2Ø in13	1-20 2-20		类型36
H2K H5K H10K	10	2 5 10	14-77 34-190 68-380	32 80 160	FBB 2Ø in6.5 FBB 2Ø in4 FBB 2Ø in2	2-10 5-10 10-10		类型37
H5M H10M H10MP15 H10ML15	5	5 10 10 10	8-52 16-104 10-23 10-23	20 40 15 15	FBB 2Ø in3 FBB 2Ø in1.5 FBB 2Ø in1.5 FBB 2Ø in1.5	5-5 10-5 - -	点聚焦 线聚焦	类型38
带固定电缆的宽带探头，特性带宽：80%
L1N L2N L2K L4K L5K L5M	20 20 10 10 10 5	1 2 2 4 5 5	28-156 50-264 14-77 28-154 34-190 8-52	63 127 32 64 80 20	FBB 2Ø in24 FBB 2Ø in12 FBB 2Ø in6 FBB 2Ø in5 FBB 2Ø in3.5 FBB 2Ø in2.5	1-20 2-20 2-10 4-10 5-10 5-5		类型36 类型36 类型37 类型38

所有探头都有点聚焦或线聚焦形式（请注明焦距）。其它设计根据要求确定。
1) 注意第5

附件描述	类型	备注
探头电缆（2米） H..K进行接触测试 的延迟线 耦合帽	PKI2 承索	用于IA..和IAP.. 承索 对于干耦合见36页

美国GE超声波探头 
主要特性： 
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外） 
•牢固的金属盒 
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
 
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果