• 美国GE水密封体直探头H2K

    详细信息

     品牌:美国GE  型号:H2K  加工定制:否  
     用途:用于检测小缺陷  是否进口:是   
    美国GE水密封体直探头H2K
    美国GE水密体直探头 H..N、H..K和H..M:特别适合于壁厚测量。也可以用于测试小型零部件的小缺陷和非均匀性,例如焊接点的所有类型粘接缺陷、薄弱焊接点的缺陷、裂缝、高质量的铸造和烧结金属中的空洞和气孔、黄铜和青铜装置中的裂缝。

    特性:极好的分辨率和非常好的缺陷探测性

    注释:                      
    粗体=首选探头,带简短注释说明
    = 提供探头数据表
    = 提供DGS标尺
    关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
    关于声束形状见第37页中声束形状编号。
    类型
    [订购号码]
    D [mm] f [MHz] AB [mm] N F [mm] / 近场分辨率1)
    [mm]
    声束形状
    编号
    备注 草图
    缺陷探测的高分辨率探头,UHF插座,特性带宽:80%
    IA5.8
    IAP5.12.6
    IAP10.6.3
    IAP15.6.2
    12.7
    19
    9.5
    9.5
    5
    5
    10
    15
    60-190
    115-225
    55-130
    40-65
    130
    150
    75
    50
    ZYB 0.5Ø in 3
    ZYB 0.5Ø in 1.5
    FBB 0.4Ø in 1.3
    FBB 0.4Ø in 1.0
    5-12.7
    -
    -
    -
    点聚焦
    点聚焦
    点聚焦
    类型39
    类型40
    类型39
    类型39
    带固定电缆的冲击波探头,特性带宽:100%
    H1N
    H2N
    20
    20
    1
    2
    28-156
    50-267
    64
    127
    FBB 5Ø in19
    FBB 2Ø in13
    1-20
    2-20
      类型36
    H2K
    H5K
    H10K
    10 2
    5
    10
    14-77
    34-190
    68-380
    32
    80
    160
    FBB 2Ø in6.5
    FBB 2Ø in4
    FBB 2Ø in2
    2-10
    5-10
    10-10
      类型37
    H5M
    H10M
    H10MP15
    H10ML15
    5 5
    10
    10
    10
    8-52
    16-104
    10-23
    10-23
    20
    40
    15
    15
    FBB 2Ø in3
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5
    5-5
    10-5
    -
    -
    点聚焦
    线聚焦
    类型38
    带固定电缆的宽带探头,特性带宽:80%
    L1N
    L2N
    L2K
    L4K
    L5K
    L5M
    20
    20
    10
    10
    10
    5
    1
    2
    2
    4
    5
    5
    28-156
    50-264
    14-77
    28-154
    34-190
    8-52
    63
    127
    32
    64
    80
    20
    FBB 2Ø in24
    FBB 2Ø in12
    FBB 2Ø in6
    FBB 2Ø in5
    FBB 2Ø in3.5
    FBB 2Ø in2.5
    1-20
    2-20
    2-10
    4-10
    5-10
    5-5
      类型36
    类型36
    类型37
    类型38
    所有探头都有点聚焦或线聚焦形式(请注明焦距)。其它设计根据要求确定。
    1) 注意第5
    附件描述 类型 备注
    探头电缆(2米)
    H..K进行接触测试
    的延迟线
    耦合帽
    PKI2
    承索
    用于IA..和IAP..
    承索
    对于干耦合见36页








    探头分为两大类:接触式和水浸式
    接触法探头
    直探头---单晶
    ·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
    ·接触面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·适于穿透厚部件
    ·延迟块用以提高近场分辨率
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    直探头--双晶
    ·接受发射单元用串扰挡板分开
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·近表面分辨率好,用于较薄部件
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    斜探头
    ·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
    ·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
    ·大多数标准探头通过模式转换产生横波
    ·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
    ·有单晶探头和双晶探头
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·有时用于机械化或自动化检测
    水浸法探头
    水浸探头
    ·在水中匹配好,效率高
    ·适于具有不规则表面的被检测件
    ·通常用于机械化或者自动化检测
    ·耦合一致性好,检测重复性高
    ·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
    ·探头聚焦可以增进效果


     
     
     
     
     
     
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