| 品牌:美国GE | | 型号:Z2K | | 加工定制:否 | |
| 用途:用于接触式检测方法的探头 | | 是否进口:是 | | | |
美国GE水密式直探头Z2K
美国GE水密式直探头 Z..N、Z..K和Z..M:有高增益储备的探头,用于测试具有增强的声波衰减特性而对分辨率没有过高要求的中小型尺寸物体。主要的应用领域是塑料合成材料(如蜂巢和多层结构)、锻件(如轴、盘和杆),还有焊接结构(如齿轮和离合器部件)和轧制的钢制品(如棒、铁轨、金属板)。
特性:高的增益储备
注释:
粗体=首选探头,带简短注释说明
= 提供探头数据表
= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。
类型
[订购号码] |
D [mm] |
f [MHz] |
AB6/11)
[mm] |
N [mm] |
F [mm] |
近场分辨率
FBH [mm] |
声束形状
编号 |
备注 |
草图 |
带固定电缆的大壳体;特性带宽:40% |
Z1N
Z2N
Z4N
Z5N |
20 |
1
2
4
5 |
28-156
50-267
100-534
127-668 |
64
127
254
318 |
|
5Ø in28
2Ø in19
2Ø in9.6
2Ø in8 |
1-20
2-20
4-20
5-20 |
可拆卸环 |
类型33 |
带固定电缆的中等尺寸壳体;特性带宽:40% |
Z2K
Z4K
Z4KP20
Z4KL20
Z5K
Z10K |
10 |
2
4
4
4
5
10 |
14-77
28-154
15-32
15-32
34-190
68-380 |
32
64
80
160 |
20
20 |
2Øin9
2Øin6.5
2Øin6.0
2Øin6.0
2Øin5
2Øin4 |
2-10
4-10
-
-
5-10
10-10 |
可拆卸环
点聚焦
线聚焦 |
类型34 |
带固定电缆的小尺寸壳体;特性带宽:40% |
Z5M
Z10M
Z10ML15
Z10MP15
Z15M |
5 |
5
10
10
10
15 |
8-52
16-104
10-23
10-23
24-156 |
20
40
60 |
15
15 |
2Øin3
2Øin2
2Øin2
2Øin2
2Øin1.6 |
5-5
10-5
-
-
15-5 |
线聚焦
点聚焦 |
类型35 |
根据用户需要提供其它频率、单元尺寸或设计的探头
1) 请见第5页中的定义。
附件描述 |
类型 |
备注 |
探头Z..K进行接触测试的延迟线
耦合帽 |
承索 |
承索
对于干耦合见36页 |
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果