| 品牌:美国GE | | 型号:WK70-1 | | 加工定制:否 | |
| 是否进口:是 | | | | | |
美国GE塑料楔块斜探头WK70-1
美国GE塑料楔块斜探头 WB..和WK..:用于由非合金或低合金钢制成的大物体的测试(如厚壁容器、转轴、所有厚的焊接件)。WK..探头产生非常短的回波脉冲。
特性:大的外形、大的深度时具有窄的声波场
注释:
粗体=首选探头,带简短注释说明
O=提供探头数据表
O=提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。
类型
[订购号码] |
a×b [mm]
N [mm] |
f [MHz] |
B 1) [Grad] |
AB* |
[mm] |
EB [mm] |
声束形状
编号 |
备注 |
草图 |
特性带宽:40% |
WB45-1
WB60-1
WB70-1
WB35-2
WB45-2
WB60-2
WB70-2
WB80-2
WB90-2
WB35-4
WB45-4
WB60-4
WB70-4 |
20×22 |
1
1
1
2
2
2
2
2
2
4
4
4
4 |
45
60
70
35
45
60
70
80
90
35
45
60
70 |
20-1300
20-1200
17-1000
15-2700
10-2700
06-2500
05-2200
09-2000
-
10-3500
06-5000
05-4000
03-3700 |
45
45
45
90
90
90
90
90
95
180
180
180
180 |
6
6
6
4
4
4
4
4
4
2
2
2
2 |
1-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
-
-
4-20×22
4-20×22
4-20×22
4-20×22 |
1) 3255m/s
提供连接器
顶端:Wb..-01
-02
-04
生成表面波
*)用于无衰减
材料时规定的
工作范围上限 |
类型21 |
合成单元,特性带宽:70% |
WK45-1
WK60-1
WK70-1
WK45-2
WK60-2
WK70-2 |
20×22 |
1
1
1
2
2
2 |
45
60
70
45
60
70 |
10-1500
10-1400
9-1300
8-3000
5-2800
4-2500 |
45
45
45
90
90
90 |
5
5
5
3
3 |
1-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22 |
|
类型21 |
SWK45-2
SWK60-2
SWK70-2 |
14×14 |
2
2
2 |
45
60
70 |
4-3500
4-3100
4-2600 |
39
39
39 |
3
3
3 |
2-14×14
2-14×14
2-14×14 |
|
类型20 |
附件描述 |
类型 |
备注 |
探头电缆(2米)
备用件
(1件=10片)
耦合剂
DGS标尺 |
PKLL2
MPKl2
WP(E)
SWP
ZG-F |
用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
见36页
见35页 |
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果