美国Ge陶瓷表面直探头K10K

K10K陶瓷表面直探头美国GE
美国GE陶瓷表面直探头 K..K : 物体上不容易接近的地方。所提供的频率范围可以使在选择探测区域）。
注释：
粗体=首选探头，带简短注释说明
O=提供探头数据表
O=提供DGS标尺
关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。

类型 [订购号码]	D [mm] [mm]	f* [MHz]	AB*	N [mm]	EB [mm]	声束形状 编号	备注	草图
特性带宽：70%
K1G K2G K4G	24 24 24	1 2 4	15-2300 10-4000 7-8000	23 45 88	7 3.5 1.8	1-24 2-24 4-24		类型5
特性带宽：70%
K1N K2N K4N K5N K6N	10 10 10 10 10	1 2 4 5 6	15-420 7-2500 5-5000 4-6300 3-7600	4 8 16 20 23	8 3.5 1.8 1.5 1.2	1-10 2-10 4-10 5-10 6-10		类型6
性带宽：60%
K2K K5K K10K K15K	5 5 5 5	2 5 10 15	7-300 5-2100 2-3000 2-3800	2.0 5.0 10 15	2.5 1.5 1 0.7	2-5 5-5 10-5 15-5		类型7

 
*) 用于无衰减材料时规定的操作量程上限。实际上，如果频率增加，则上限急剧降低。
提供其它频率、单元直径、带宽或设计的探头。
                                                                                                                                                         

附件描述	类型	备注
探头电缆（2米） 类型 耦合剂	MPKL2 MPKM2 ZG-F	用于K..G, K..N 用于K..K 见36页

美国GE超声波探头 
主要特性： 
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外） 
•牢固的金属盒 
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
 
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果