- 指尖式探头B4F美国GE
详细信息
品牌:美国GE 型号:B4F 加工定制:否 是否进口:是
美国GE指尖式探头 指尖探头B..F和MB..F:可以与探头K..G和K..N相比较,但是由于扁平设计,它们非常适合于那些不容易接近的位置的测试。经常被称作"搜索探头"。
特性:非常好的穿透性 / 高的抗磨损性 / 扁平设计
注释: 粗体=首选探头,带简短注释说明
O=提供探头数据表
O=提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。类型
[订购号码]D [mm] [mm] f [MHz] AB* N [mm] EB [mm] 声束形状
编号备注 草图 特性带宽:70% B1F
B2F
B4F
B5F20
20
20
201
2
4
520-1300
10-4000
6-7500
6-1000016
31
62
768
1
3
2.51-20
2-20
4-20
5-20类型8 特性带宽:60% MB2F
MB4F
MB5F
MB10F10
10
10
102
4
5
613-2500
6-5000
5-6200
3-120008
16
19
364
3
2.5
22-10
4-10
5-10
10-10与MB2S相同
与MB4S相同类型9
提供其它频率、单元直径、带宽或设计的探头。附件描述 类型 备注 探头电缆(2米 DGS标尺
耦合剂MPK2L
ZG-F用于B..F和MB..F
见35页
见36页
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
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