- 美国GE探伤仪直探头B0.5SL
详细信息
品牌:美国GE 型号:B0.SL 加工定制:否 用途:探伤仪测厚仪探头 是否进口:是 产地:美国
美国GE探伤仪直探头 主要应用领域 通常:用于容积形或者平行于表面的缺陷的探测和评估。可互换的抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面 也达到尽可能好的耦合,并防止探头受损。
特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性
注释:
粗体=首选探头,带简短注释说明
O= 提供探头数据表
O= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。带可更换保护膜的直探头 主要特性:
·单晶探头实现声波的发射和接收
·纵波垂直传输
·即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上,由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性
·如果及时地更换保护膜,则探头的磨损可以达到*小
·特殊的粗晶探头,在测试高衰减材料时,利用短脉冲可以达到高信噪比
·由于采用印模压铸成型,因此实际形状具有很高的稳定性
通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探测和评估。可更换的抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面也达到*好耦合,并防止探头磨损。类型[订购号码] D [mm] f [MHz] AB [mm] N [mm] EB [mm] 声束形状编号 B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果
-