德国KD 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042
详细信息
| 品牌:德国KD | | 加工定制:否 | | 型号:LEPTOSKOP 2042 | |
| 类型:涂层 | | 测量范围:0-2000 mm | | 显示方式:数显 | |
| 电源电压:1.5 V | | | | | |
德国KD 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042
产品简介
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
德国KD 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042技术资料
数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量2个数值
存储:
***多 9999 个数值,140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
德国KD 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 特点概述
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项
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出厂时已校准,立即可用
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在未知涂层上校准*
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零校准*
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在无涂层的基体上一点和多点校准*
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在有涂层的基体上校准*
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
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可选择的显示模式,以***佳形式去完成测量任务*
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输入和极限监视*
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在Windows下有简单的存储读数档案管理*
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可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计*
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可统计评估999个读数
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***小值、***大值、测量个数、标准偏差和极限监视
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局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
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在线统计,所有统计值概括
* 取决于配置级别
3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别
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基本型 – 证明质量的基本特征
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高级型 - 附加统计评估
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*型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或*型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。
附件
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里
德国卡尔德意志KARL DEUTSCH产品系列
超声波测厚仪 |
产品组 |
产品型号/名称 |
品牌 |
配置说明 |
市场价(元) |
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1076Basic超声波测厚仪 |
德国KD |
基本型主机、探头、电池、仪器箱、100m耦合剂1076.005+1465.761 |
22000 |
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1076Data超声波测厚仪 |
德国KD |
数据型主机、探头、数据存储、电脑传输、电源接口、防尘保护帽、电池、仪器箱100ml耦合剂1076.002+1465.672 |
25500 |
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1076TCBasic
超声波测厚仪 |
德国KD |
带涂层穿透功能的基本型主机、探头、电池、仪器箱、100m耦合剂1076.004+1465.672 |
35600 |
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1076TCData
超声波测厚仪 |
德国KD |
带涂层穿透功能的数据型主机、探头、数据存储、电脑传输电源接口、防尘保护帽、电池、仪器箱100ml耦合剂1076.003+1465.672 |
31000 |
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1077Data超声波测厚仪 |
德国KD |
1077测厚仪主机、探头DS6PB4-14(含10mm延时、块)、1m探头线、电池、100ml耦合剂、USB数据线、CD驱动、EasyExport电脑软件、说明书、检测报告、仪器箱 |
42000 |
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涂层测厚仪 |
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2018NFe一体涂层测厚 |
德国KD |
主机、电池、校准箔、校准试块、操作手册、质量证书、仪器箱 |
8600 |
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2021Fe一体涂层测厚 |
德国KD |
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8600 |
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2026Fe/Nfe一体涂层测厚 |
德国KD |
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11000 |
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2042Fe基本型
涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.100探头、测试块、校准箔操作手册、质量证书仪器箱 |
24000 |
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2042NFe基本型
涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.130探头、测试块、校准箔操作手册、质量证书仪器箱 |
24500 |
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2042Fe/NFe
基本型涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.410探头、测试块、校准箔操作手册、质量证书仪器箱 |
31400 |
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2042Fe统计型
涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.100探头、测试块、校准箔、USB线、软件EasyExport、操作手册、质量证书、仪器箱 |
30800 |
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2042NFe统计型
涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.130探头、测试块、校准箔、USB线、软件EasyExport、操作手册、质量证书、仪器箱 |
31400 |
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2042Fe/NFe
统计型涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.410探头、测试块、校准箔、USB线、软件EasyExport、操作手册、质量证书、仪器箱 |
37300 |
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2042Fe统计数据存储型涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.100探头、测试块、校准箔、统计和数据存储器USB线、软件、操作手册、质量证书、仪器箱 |
35700 |
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2042NFe统计数据存储型涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.130探头、测试块、校准箔、统计和数据存储器USB线、软件、操作手册、质量证书、仪器箱 |
36400 |
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产品组 |
产品型号/名称 |
品牌 |
配置说明 |
市场价(元) |
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2042Fe/Nfe统计数据存储型涂层测厚仪 |
德国KD |
主机、配2442.410探头、测试块、校准箔、统计和数据存储器USB线、软件、操作手册、质量证书、仪器箱 |
42600 |
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PC-LEPTOSKOP2050
涂层测厚仪 |
德国KD |
配2050.101探头、软件、测试块、校准箔、操作手册、质量证书、手提包 |
17600 |
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超声波探伤仪 |
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1090BASIC
超声波探伤仪 |
德国KD |
主机、直探头S10W4C、斜探头3个(WK45PB4、WK60PB4、WK70PB4)、探头线(2mØ2.7mm)一根、仪器箱、耦合剂、充电器、操作说明书、出厂证明 |
149000 |
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1090DAC超声波探伤仪 |
德国KD |
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155000 |
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1090DGS/DAC
超声波探伤仪 |
德国KD |
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165000 |
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1095高精度超声波探伤仪 |
德国KD |
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磁粉探伤仪 |
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DEUTROPULS
磁粉探伤仪(220V) |
德国KD |
磁探仪、磁悬液一瓶、说明书、仪器箱 |
17200 |
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DEUTROPULS
磁粉探伤仪(42V) |
德国KD |
标配一个探头,磁探仪、磁悬液一瓶、说明书、仪器箱 |
17200 |
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裂纹测深仪 |
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RMG4015裂纹测深仪 |
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德国KD |
主机、探头、标准试块、仪器箱、说明书、测试报告、出厂证书4015.003+4720.002+4418.001) |
98000 |
探伤耗材 |
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DEUTROMETER3873
磁场强度仪 |
德国KD |
3873磁场仪主机、标准探头、电池、说明书、仪器箱 |
23600 |
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KD-CHECK渗透剂 |
德国KD |
标准配置 |
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FLUXA浓缩磁悬液 |
德国KD |
标准配置 |
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DEUTROMETERII大面积黑光灯 |
德国KD |
标准配置 |
44500 |
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9803.001荧光磁悬液性
能定量测试试块 |
德国KD |
标准配置 |
6700 |
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PH3819UV-聚光灯 |
德国KD |
标准配置 |
27900 |
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3814便携式黑光灯 |
德国KD |
标准配置 |
2800 |
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3872.601参考磁场 |
德国KD |
标准配置 |
9600 |
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3821.002剩磁计 |
德国KD |
标准配置 |
4000 |
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6904.002参考试块 |
德国KD |
标准配置 |
18700 |
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UV-IntensityMeter
黑光强度计 |
德国KD |
标准配置 |
16100 |
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6904.001荧光磁悬液性能定性测试试块 |
德国KD |
标准配置 |
7600 |
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