• 日本KETT 涂层测厚仪 凯特膜厚计 L-500

    详细信息

     品牌:日本KETT  加工定制:否  型号:L-500  
     类型:涂层  测量范围:0-2.5 mm 显示方式:数显  
     电源电压:AC100-240V或8个1.5 V 外形尺寸:126×256×93 mm  
    日本KETT 涂层测厚仪 凯特膜厚计 L-500
    测量、统计、打印输出
    一次性完成
     
    L-500产品概述
    L-500型膜厚计是一种内置打印功能的涂镀层测量仪。
    由于测量数据可以现场打印,因此可以直接将打印纸粘贴到被测量对象或被测量位置来进行现场数据管理。
    与此仪器共同开发的新型探头具有比以往型号更高的测量精度,并提高了耐磨性。
    机身外形易于单手握持,配备高像素的大显示屏,无需打印即可查看统计结果,适用于多种环境。
     
    ●内置打印机
    不仅可以在测量过程中打印,还可以单独打印已存储的数据,或者打印每个区块的统计结果。
    如果不需要,也可以关闭打印功能。
     
    ●大型高像素显示屏
    相比其他型号的产品能显示更详细的调整步骤,并更加清楚的查看结果。
    此外,仪器还提供多档背光功能,可适用于不同黑暗的环境当中。
    探头(探头为必需品)
    应用数据储存至探头
    与以往不同,应用数据将储存至探头,而不再是主机。
    每个探头*多存储50种应用数据(调整数据、基体校零数据、应用程序名称和上下限设置)。
    即使关闭电源,储存的数据也不会丢失,因此同一应用再次测量时,无需进行调整。
    ●方便握特的机身
    我们对机身的形状及尺寸再次进行深入的研究,使其更加方便单手握持·可适用于各种复杂的测量环境。
    另外,使用配套的同带更可以腾出双手,更好的在高空测量环境中保持身体的平稳。
    屏幕也设计为即使在倾斜的角度也可清晰的查看。
    ●一体式探头支架
    我们在机身的侧面设计了一体式的探头支架,这样可以防止探头磨损及误触测量。
     
     
    ●区块/分组的功能
    在数据管理中,如果将测量数据分为测量现场、测量批次、测量对象等,并将其设置为不同的“区块”、“分组”和“应用”,这样可以获得更详细的统计结果。
    通过“区块数据统计”和“分组数据统计”,可以立即获得所需的数据结果·避免复杂的人工记录。
    ●其他更加便利的功能
    内置强大的测量数据管理功能,包括数据外部输出、测量单位切换、超时自动关机,背光设置、上限和下限设置,以及打印清晰度设置。

    日本KETT 涂层测厚仪 凯特膜厚计 L-500 仪器参数
    显示分辨率 100μm以下0.1μm100μm以上1μm
    显示方式 LCD数字显示屏(含背光)
    测量数据
    存储数量
    24,000
    应用数据
    存储数量
    每个探头50
    外部输出方式 USB串口
    电源 AC100-240V81.5V碱性电池
    4个用于机身·4个用于打印机
    功耗 25W
    续航时间 矣闭打印机及背光·可用时间约70小时
    工作温度
    湿度范围
    0-40℃·85%RH或更低(无冷凝)
    附加功能 基体校零、调整、应用选择、单位切换、
    上限和下限设置·测量方法切换·自动断电·
    统计计算(区块\分组趴测量次数平均值
    *大值\*小值)·测量数据储存·背光·
    打印清晰度设置·日期和时间设置、
    屏幕显示方式切换等
    符合标准
    注:
    红色对应
    电磁式
    蓝色对应
    涡流式
    J1SK5600-1-7·J1SH8501·1S02064·
    IS02808·I1S019840·ASTM D7091·
    ASTM E376
    J1SH0401·J1SH84011SO1460·
    ISO2178·ASTM B499
    J1SH8680-2·1S02360·ASTM B244
    尺寸重量 126mmW)×256mm(D)×93mm(H)750g
    附属产品 铁基体(电磁探头EP-100)
    铝基体(涡流探头HP-100)
    标准片×685号碱性电池、电源、
    V型块标准片收纳盒手提箱
    简易调整说明书、使用说明书
    选购产品 标准片(可选规格)、
    测量支架LW-990
    校准(校准证明/校准结果表)
     
    探头参数
    型号 EP-100 HP-100
    测量方式 电磁式(Fe) 涡流式(NFe)
    测量对象 磁性上的非磁性层 非磁性上的绝缘层
    测量范围 0-2,500μm99mils 0-1,200μm47mils
    测量精度 15μm以下±0.3μm
    15μm以上1,000μm  
    以下±2%
    1,000μm以上±3%
    50μm以下±1μm
    50μm以上±2%
     
     
     
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