• 美国GE贝克休斯测厚仪探头SEB4

    详细信息

     品牌:美国GE  型号:SEB4  加工定制:否  
     用途:探伤仪测厚仪探头  是否进口:是  产地:美国  
    美国GE贝克休斯测厚仪探头

    应用
    •结构规则简单的大型工件检测
    •锻件、坯料检测
    •板材、棒材、方型材
    •容器、机器零部、外壳
    •在高温下用延迟块检测

    功能特和优势
    •欧式型号具有可更换的软保护膜:
    – 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合
    – 延长探头使用寿命。
    – 适用于 DGS 缺陷定量方法
    – 提供高温延迟块
    – Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器,标准探头连接器安装在侧面,顶部接口可选
    •美式型号具有可更换的软保护膜:
    – 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。
    – 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。
    – 高温延迟块可在*高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。
    – BNC 连接器,侧面或顶部安装

    这些探头基本上能满足所有常规检测要求。这些常规探头都能用于各种标准超声探伤仪。这些探头性能优越,可靠性高,能满足非常严格的应用要求,精度高,我们探头的技术参数都能控制在允许的误差范围内。
    双晶探头
    型号 频率(MHZ 换能器尺寸(mm 尺寸Φ(mm) 高度(mm  
    SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65  
    MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45  
    SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17  
    直探头
    B+S
    MB*S
    1, 2, 4, 5
    2, 4, 5
    24
    10
    45
    25
    59
    43
     
    K*G
    K*N
    K*K
    1, 2, 4, 6
    2, 4, 6, 10
    2, 5, 10, 15
    24
    10
    5
    45
    25
    11
    60
    43
    17
     
    B*F
    MB*F
    1, 2, 4, 5
    2, 4, 5, 6, 10
    20
    10
    31
    19
    15
    15
     
    斜探头 频率(MHZ 晶片尺寸(mm×mm)
    WB 35-*
    WB 45-*
    WB 60-*
    WB 70-*
    WB 80-*

    WB 90-*
    MWB 35-*
    MWB 45-*
    MWB 60-*
    MWB 70-*
    MWB 80-*
    MWB 90-*
    2, 4
    1, 2, 4
    1, 2, 4
    1, 2, 4
    2, 4

    2
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    4
    20 x 22


     
     
     
     8 x 9





     
    53.5
    53.5
    53.5
    53.5
    53.5

    53.5
    27
    27
    27
    27
    27
    27
    29
    29
    29
    29
    29

    29
    15
    15
    15
    15
    15
    15
    45
    45
    45
    45
    45
    45
    22
    22
    22
    22
    22
    22
     


    美国GE贝克休斯超声波探头 
    主要特性: 
    •单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 
    •通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
    •完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外) 
    •牢固的金属盒 
    •用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 
    •使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
     
    探头分为两大类:接触式和水浸式
    接触法探头
    直探头---单晶
    ·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
    ·接触面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·适于穿透厚部件
    ·延迟块用以提高近场分辨率
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    直探头--双晶
    ·接受发射单元用串扰挡板分开
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
    ·近表面分辨率好,用于较薄部件
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·通常用于手动检测
    斜探头
    ·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
    ·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
    ·大多数标准探头通过模式转换产生横波
    ·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
    ·有单晶探头和双晶探头
    ·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
    ·有时用于机械化或自动化检测

    水浸法探头
    水浸探头
    ·在水中匹配好,效率高
    ·适于具有不规则表面的被检测件
    ·通常用于机械化或者自动化检测
    ·耦合一致性好,检测重复性高
    ·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
    ·探头聚焦可以增进效果
  • 留言

    *详细需求:
    *手  机:
    联 系 人:
    电    话:
    E-mail:
    公  司:
    谷瀑服务条款》《隐私政策
深圳市泰立仪器仪表有限公司 电话:0755-83981822/82513866 手机:13662293689 地址: 深圳市龙岗区龙翔大道9009号珠江广场A2栋13D室
内容声明:谷瀑为第三方平台及互联网信息服务提供者,谷瀑(含网站、客户端等)所展示的商品/服务的标题、价格、详情等信息内容系由店铺经营者发布,其真实性、准确性和合法性均由店铺经营者负责。谷瀑提醒您购买商品/服务前注意谨慎核实,如您对商品/服务的标题、价格、详情等任何信息有任何疑问的,请在购买前通过谷瀑与店铺经营者沟通确认;谷瀑上存在海量店铺,如您发现店铺内有任何违法/侵权信息,请在谷瀑首页底栏投诉通道进行投诉。