- 美国GE贝克休斯测厚仪探头SEB4
详细信息
品牌:美国GE 型号:SEB4 加工定制:否 用途:探伤仪测厚仪探头 是否进口:是 产地:美国
应用
•结构规则简单的大型工件检测
•锻件、坯料检测
•板材、棒材、方型材
•容器、机器零部、外壳
•在高温下用延迟块检测
功能特和优势
•欧式型号具有可更换的软保护膜:
– 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合
– 延长探头使用寿命。
– 适用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高温延迟块
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器,标准探头连接器安装在侧面,顶部接口可选
•美式型号具有可更换的软保护膜:
– 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。
– 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。
– 高温延迟块可在*高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。
– BNC 连接器,侧面或顶部安装
这些探头基本上能满足所有常规检测要求。这些常规探头都能用于各种标准超声探伤仪。这些探头性能优越,可靠性高,能满足非常严格的应用要求,精度高,我们探头的技术参数都能控制在允许的误差范围内。双晶探头 型号 频率(MHZ) 换能器尺寸(mm) 尺寸Φ(mm) 高度(mm) SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65 MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45 SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17 直探头 B+S
MB*S1, 2, 4, 5
2, 4, 524
1045
2559
43K*G
K*N
K*K1, 2, 4, 6
2, 4, 6, 10
2, 5, 10, 1524
10
545
25
1160
43
17B*F
MB*F1, 2, 4, 5
2, 4, 5, 6, 1020
1031
1915
15斜探头 频率(MHZ) 晶片尺寸(mm×mm) 长 宽 高 WB 35-*
WB 45-*
WB 60-*
WB 70-*
WB 80-*
WB 90-*
MWB 35-*
MWB 45-*
MWB 60-*
MWB 70-*
MWB 80-*
MWB 90-*2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
2, 4
2
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
420 x 22
8 x 9
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
27
27
27
27
27
2729
29
29
29
29
29
15
15
15
15
15
1545
45
45
45
45
45
22
22
22
22
22
22
美国GE贝克休斯超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果 -