奥林巴斯相控阵探伤仪OmniScan X3 64
详细信息
| 品牌:奥林巴斯 | | 型号:64 | | 加工定制:否 | |
| 类型:超声波 | | 测量范围:30 ns ~ 1,000 ns | | 分辨率:0.001 | |
| 尺寸:335 mm × 221 mm × 151 mm | | 重量:5.7 kg | | | |
奥林巴斯相控阵探伤仪OmniScan X3 64
威力强大,小巧便携
OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。
信心满满,昭然可见
OmniScan X3相控阵探伤仪是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高级可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。
提前确认TFM(全聚焦方式)声波覆盖范围
声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,即时提供灵敏度的可视化模型。
声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使您看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。
用PCI查看您错过了什么
我们创新性的无振幅实时相位相干成像(PCI)提高了对小缺陷的灵敏度和在噪声材料中的穿透力,同时简化了设置和尺寸调整。从MXU 5.10开始,可用于OmniScan X3 64探伤仪。