• 美国达高特DAKOTA腐蚀测厚仪MX1-DL-2DL

    详细信息

     品牌:美国达高特  型号:-2DL  加工定制:否  
     测量误差:0.1mm+0.5%  测量分辨率:0.01mm  数据存储:4GB  
     工作频率:1 - 10 MHz 外形尺寸:63.5 x 165 x 31.5 mm  
    美国达高特DAKOTA腐蚀测厚仪MX1-DL-2DL

    Dakota MX腐蚀测厚仪系列具有大而易读的显示器,并为用户提供A和B扫描选项,以准确解释测量结果。

    多功能
    测量未涂层和涂层表面
    Dakota MX腐蚀厚度系列灵活易用,不仅可以测量未涂层表面,还可以测量涂层表面。使用Echo Echo ThruPaint™模式(EE)时,*大1mm(40mils)的涂层将被忽略。

    强大的
    *多可存储4GB的读数和波形或B扫描
    在扫描模式下,内部数据记录器每秒读取250个读数,*多可存储4GB的读数及其波形。

    可定制
    选择并自定义阅读显示
    Dakota MX超声波测厚仪系列有多种显示模式可供选择,允许用户根据自己的需求选择*合适的显示模式;MX2-DL腐蚀测厚仪上的读数、B扫描、B扫描与读数、扫描条和A扫描相结合。

    Dakota MX腐蚀测厚仪
    Dakota MX腐蚀测厚仪有两种型号:MX1-DL测厚仪和MX2-DL测厚计。这两种模型都提供了二维横截面块视图,提供了材料厚度的图形表示,是准确分析和识别凹坑和腐蚀区域的理想选择。

    MX1-DL超声波测厚仪:在扫描模式下每秒读取250个读数,内部数据记录器*多可存储4GB的数据及其波形。

    MX2-DL超声波测厚仪:除了MX1-DL测厚仪的所有功能外,MX2-DL测厚计还具有A扫描显示器,允许用户完全解释和控制测量读数。用户可以选择查看全波形(RF)或整流波形(RECT),显示全波形的正周期或负周期。

     

     
    主要特点

    功能说明
    重复性/稳定性指标
    由6个垂直条组成,当所有条都完全照亮并且数字厚度值上的*后一位数字稳定时,该量规可以可靠地测量材料厚度。

    具有*小厚度显示的高速扫描
    通过显著提高测量刷新率,该模式允许用户对测试材料进行扫描。*小厚度值保存在内存中,并在扫描完成时显示。此功能还可以与*小和*大限值报警功能结合使用(取决于型号)。

    差分模式
    一旦设置了用户定义的标称厚度值,测量仪将显示与输入的标称值的+/-厚度差。

    极限报警模式
    用户可以定义*小和*大厚度限制。如果测量值超出上限或下限,红色LED将亮起,蜂鸣器将响起。绿色LED将亮起,表示厚度可接受。

    V路径校正
    双元件传感器由一个带有两个晶体的探头组成(一个用于发射,一个用于接收声脉冲)。晶体被声屏障隔开,当声音从一个元件传播到另一个元件时,会产生“V”形的声音路径。该路径比直接路径稍长,因此使用V路径校正来计算正确的厚度。

    测量模式说明

    脉搏回声(PE):
    正常显示模式测量从换能器探头底部到材料密度边界(通常是后壁)的总厚度。非常适合凹坑和缺陷检测。

    回声-回声模式(EE):
    EE也称为ThruPaint™模式,忽略涂层厚度,显示从材料顶面到材料密度边界的材料厚度。

    显示模式说明

    材料厚度数字显示:
    所有型号的标准显示,以毫米(MM)或英寸(in)为单位显示数值厚度值。

    扫描栏显示:
    一种线性图形显示器,允许用户以图形方式监测厚度读数的变化。由于用户可以调整刻度范围,因此该显示器非常适合观察材料厚度的微小变化。

    B扫描显示器:
    厚度的基于时间的横截面二维块视图提供了材料厚度的图形视图,是相对深度分析的理想选择。

    A扫描显示器;全波(RF):
    A-Scan显示器显示由被测材料反射的声音或振荡产生的正弦波。在射频模式下,显示全波形。

    A扫描显示器;已纠正(+或-):
    用户可以选择查看全波形(RF)的正周期或负周期。这种校正(RECT)显示显示了回声的幅度与传输时间的关系。
    *仅适用于MX2-DL型号

     


    美国达高特DAKOTA腐蚀测厚仪MX1-DL-2DL特点
     
    Model MX1-DL MX2-DL
    Display Mode
    Material thickness digits display    
    B-Scan cross sectional display    
    Combined B-Scan and digits display    
    Scan Bar Display    
    A-Scan Display   + Rectified, - Rectified, Full Waveform (RF)
    Measurement Rate
    Manual 8 readings per second 8 readings per second
    Scan Mode 250 readings per second 250 readings per second
    Scan bar display 10 readings per second 10 readings per second
    Measurement Resolution 0.01mm (0.001”) 0.01mm (0.001”)
    Velocity Calibration Range 309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)
    309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)
    Additional Features
    High Speed Scan Mode    
    Differential Mode    
    Limit alarm mode    
    B-Scan Display Speed 10 to 200 readings per second 10 to 200 readings per second
    Calibration Setups 64 user-definable setups transferable to and from a PC archive 64 user-definable setups transferable to and from a PC archive
    Gates   • PE: 1 gate; EE: 2 gates, 1 gate with hold off
    • Adjustable threshold
    Pulser Type 150 volt square wave pulser Square wave pulser with adjustable pulse width (spike, thin, wide)
    Gain Manual or automatic gain control (AGC) with 50dB range (depending on mode selected) Manual or automatic gain control (AGC) with 40dB range (depending on mode selected)
    Timing Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer 20 MHz with ultra low power 8 bit digitizer
    Memory and Data Logging • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer
    • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer
    Transducer Probe Type Dual element Dual element
    Transducer Frequency Range 1 - 10MHz 1 - 10MHz
    Transducer Recognition Manual - selectable from a list Manual - selectable from a list
    V-path / dual path error correction Automatic Automatic
    Probe Zero Manual (via integrated probe disk) Manual (via integrated probe disk)
    Display 1/8 VGA (greyscale)
    62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area
    1/8 VGA (greyscale)
    62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area
    Display Refresh Rate 25Hz 25Hz
    Units (selectable) mm or inches mm or inches
    LED Backlight on/off/auto on/off/auto
    Repeatability / Stability Indicator    
     

    美国达高特DAKOTA腐蚀测厚仪MX1-DL-2DL技术参数
     
    Part Number Description Certificate
    Z-160-0005 Dakota MX1-DL Thickness Gauge (MMX-7)
    Z-149-0006 Dakota MX2-DL Thickness Gauge (MVX)
    Transducer Probe Type Dual Element
    Measurement Accuracy1 0.01mm (0.001”)
    Memory 4GB Internal Memory
    Operating Temperature -10 to 60ºC (14 to 140ºF)
    Data Output USB
    Power Supply 3 x AA batteries and via USB
    Battery Life Alkaline – 35 hrs, Nicad – 10 hrs and NI-MH – 35 hrs
    Gauge Weight 383g (13.5oz) - including batteries
    Gauge Dimensions 63.5 x 165 x 31.5mm (2.5 x 6.5 x 1.24”)
    Packing List Unit, Selectable Transducer, Couplant, Manual, Plastic Carrying Case, Certificate of Calibration and AA Batteries. PC Software and Data Transfer Cable included with data logging gauges.

    1测量范围和精度取决于材料、表面条件和所选传感器
    2在连续测量模式下,电池寿命约为。

    ●校准证书作为标准提供

    工厂校准可追溯到NIST和MIL-STD-45662
    零件编号Dakota MX腐蚀测厚仪



     
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