• 美国DAKOTA腐蚀测厚仪CMX1-2-3 DL

    详细信息

     品牌：美国DAKOTA  型号：1-2-3 DL  加工定制：否  
     测量范围：0.63 - 1219.2 mm 测量误差：0.1mm+0.5%  测量分辨率：0.01mm  
     数据存储：4GB  工作频率：1-20 MHz 外形尺寸：63.5 x 165 x 31.5 mm 
    美国Dakota腐蚀测厚仪CMX1-2-3 DL

    Dakota CMX腐蚀测厚仪是该系列中的佼佼者，易于使用，为检查员提供了同时测量材料和涂层厚度所需的所有功能。


    智能化
    用户可定义的通过/失败指示限制
    为单个读数或每批读数的通过/失败指示设置限制，并发出声光警告。

    强大的
    存储每个测量值以供进一步分析
    每次测量时，*多可将4GB的读数保存到仪表内存中，稍后可将其下载到检查应用程序或DakMaster™软件中，以进行进一步分析和报告。

    多功能
    能够测量涂层和材料厚度
    Dakota CMX超声波测厚仪能够同时测量涂层和材料厚度，同时保持定位材料中凹坑、缺陷和瑕疵的能力。

    可定制
    选择并自定义阅读显示
    Dakota CMX测厚仪系列有多种显示模式可供选择，允许用户选择*适合他们需求的显示模式；Dakota CMX2-DL腐蚀测厚仪和Dakota CMF3-DL腐蚀测厚计上的读数、B扫描、B扫描与读数、扫描条和A扫描相结合。

    Dakota CMX腐蚀测厚仪
    Dakota CMX超声波腐蚀测厚仪有四种型号，从入门级Dakota CMF1超声波测厚仪到顶级Dakota CMV3-DL超声波测厚计。

    显示和测量选项范围：脉冲回波、回波回波、脉冲回波温度、复合模式（PETP）、仅涂层模式（CT）、脉冲回波涂层模式（PECT）
    手动或自动增益控制（AGC），可调110dB范围
    闸门控制
    阈值调整
    64用户自定义设置
    多语言显示
    多种校准和材料选择选项
    高速扫描模式：每秒250个读数（Dakota CMX1超声波测厚仪和Dakota CMF1-DL超声波测厚计），每秒50个读数（Dankota CMX2-DL超声波测厚器和Dakoda CMX3-DL超声波测厚度仪）
    A-Scan纵向和横向视图（仅限Dakota CMX3-DL超声波测厚仪）
    差异和*小厚度报警模式
    数据输出和存储：4GB内存
    下载DakMaster™数据管理软件
     


    美国Dakota腐蚀测厚仪CMX1-2-3 DL

    主要特点

    重复性/稳定性指标
    由6个垂直条组成，当所有条都完全照亮并且数字厚度值上的*后一位数字稳定时，该量规可以可靠地测量材料厚度。
    具有*小厚度显示的高速扫描
    通过显著提高测量刷新率，该模式允许用户对测试材料进行扫描。*小厚度值保存在内存中，并在扫描完成时显示。此功能还可以与*小和*大限值报警功能结合使用（取决于型号）。

    差分模式
    一旦设置了用户定义的标称厚度值，测量仪将显示与输入的标称值的+/-厚度差。

    极限报警模式
    用户可以定义*小和*大厚度限制。如果测量值超出上限或下限，红色LED将亮起，蜂鸣器将响起。绿色LED将亮起，表示厚度可接受。

    测量模式说明

    脉冲回波模式（PE）：
    正常显示模式测量从换能器探头底部到材料密度边界（通常是后壁）的总厚度。非常适合凹坑和缺陷检测。

    回声-回声模式（EE）：
    EE也称为ThruPaint™模式，忽略涂层厚度，显示从材料顶面到材料密度边界的材料厚度。

    脉冲-回波温度补偿模式（PETP）：
    与PE模式类似，PETP考虑并补偿了温度变化引起的测量变化。

    回声-回声验证模式（EEV）：
    回声验证模式通过比较3次反射之间的值进行测量，通常用于消除表面涂层的误差，并在多层材料中进行测量。

    仅涂层模式（CT）：
    显示应用于材料的涂层厚度。

    脉冲回波涂层模式（PECT）：
    同时显示材料厚度（PE）和涂层厚度（CT）。

    基本缺陷模式（Flaw Mode）：
    CMX2-DL和CMX3-DL腐蚀测厚仪上提供了使用单晶斜射传感器的基本验证探伤。

    显示模式说明

    A扫描显示器；全波（RF）：
    材料厚度数字显示：
    所有型号的标准显示，以毫米（MM）或英寸（in）为单位显示数值厚度值。

    扫描栏显示：
    一种线性图形显示器，允许用户以图形方式监测厚度读数的变化。由于用户可以调整刻度范围，因此该显示器非常适合观察材料厚度的微小变化。

    B扫描显示器：
    厚度的基于时间的横截面二维块视图提供了材料厚度的图形视图，是相对深度分析的理想选择。

    A扫描显示器；全波（RF）：*
    A-Scan显示器显示由被测材料反射的声音或振荡产生的正弦波。在射频模式下，显示全波形。
    A扫描显示器；已纠正（+或-）：*
    用户可以选择查看全波形（RF）的正周期或负周期。这种校正（RECT）显示显示了回声的幅度与传输时间的关系。
     
    *仅适用于CMX2-DL和CMX3-DL测厚仪型号
     


    美国Dakota腐蚀测厚仪CMX系列特点
     
    Model CMX1 CMX1-DL CMX2-DL CMX3-DL
    Display Mode
    Material thickness digits display        
    B-Scan cross sectional display        
    Combined B-Scan and digits display        
    Coating Thickness Display        
    Scan Bar Display        
    A-Scan Display       + Rectified, - Rectified, Full Waveform (RF) Portrait & landscape views
    Measurement Range PE: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PETP: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    EE: 2.54 - 152.4mm
    (0.100 - 6.0“)
    EEV: 1.27 - 25.4mm
    (0.050 - 1.0”)
    CT: 0.01 - 2.54mm
    (0.0005 - 0.100”)
    PECT: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PECT: 0.01 - 2.54mm
    (0.001 - 0.100")    		 PE: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PETP: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    EE: 2.54 - 152.4mm
    (0.100 - 6.0“)
    EEV: 1.27 - 25.4mm
    (0.050 - 1.0”)
    CT: 0.01 - 2.54mm
    (0.0005 - 0.100”)
    PECT: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PECT: 0.01 - 2.54mm
    (0.001 - 0.100")    		 PE: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PETP: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    EE: 2.54 - 152.4mm
    (0.100 - 6.0“)
    EEV: 1.27 - 25.4mm
    (0.050 - 1.0”)
    CT: 0.01 - 2.54mm
    (0.0005 - 0.100”)
    PECT: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PECT: 0.01 - 2.54mm
    (0.001 - 0.100")    		 PE: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PETP: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    EE: 2.54 - 152.4mm
    (0.100 - 6.0“)
    EEV: 1.27 - 25.4mm
    (0.050 - 1.0”)
    CT: 0.01 - 2.54mm
    (0.0005 - 0.100”)
    PECT: 0.63 - 1219.2mm
    (0.025 - 48”)
    PECT: 0.01 - 2.54mm
    (0.001 - 0.100")
    Measurement Rate
    Manual 8 readings per second 8 readings per second 8 readings per second 8 readings per second
    Scan Mode 250 readings per second 250 readings per second 50 readings per second 50 readings per second
    Scan bar display 10 readings per second 10 readings per second 10 readings per second 10 readings per second
    Measurement Resolution 0.01mm (0.001”) 0.01mm (0.001”) 0.01mm (0.001”), 0.001mm (0.0001”) selectable 0.01mm (0.001”), 0.001mm (0.0001”) selectable
    Velocity Calibration Range 309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)    		 309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)    		 309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)    		 309.88 - 18,542m/s
    (0.0122 - 0.7300in/µs)
    Additional Features
    High Speed Scan Mode        
    Differential Mode        
    Limit alarm mode        
    B-Scan Display Speed 15 readings per second 15 readings per second 15 readings per second 10 to 200 readings per second
    Flaw Mode     Basic prove-up flaw detection using single element angle beam transducers Basic prove-up flaw detection using single element angle beam transducers
    Calibration Setups       64 user-definable setups transferable to and from a PC archive
    Gates     3 fully adjustable gates: start, stop, width & threshold 3 fully adjustable gates: start, stop, width & threshold
    Damping     Adjustable damping (50 - 1500ohms) Adjustable damping (50 - 1500ohms)
    Pulser Type Dual square wave pulsers
    Pulse repetition frequency up to 250Hz    		 Dual square wave pulsers
    Pulse repetition frequency up to 250Hz    		 Dual square wave pulsers
    Pulse repetition frequency up to 250Hz    		 Dual square wave pulsers
    Pulse repetition frequency up to 250Hz
    Gain Manual or automatic gain control (AGC) with 110dB range (limited) Manual or automatic gain control (AGC) with 110dB range (limited) Manual, automatic gain control (AGC) with 110dB range (limited), Linear time dependent gain (TDG) with adjustable slope Manual, automatic gain control (AGC) with 110dB range (limited), Linear time dependent gain (TDG) with adjustable slope
    Timing Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer
    Memory and Data Logging • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer    		 • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer    		 • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer    		 • 4GB internal memory
    • Sequential and grid logging
    • Alpha numeric batch identification
    • OBSTRUCT indicates inaccessible locations
    • Bitmap graphic capture and capture viewer
    Calibration Options
    1 - point        
    2 - point        
    Material selection        
    Velocity (speed of sound)        
    Transducer Probe Type Dual element Dual element Dual element Dual Element, Single Element (1 - 20Mhz), Contact, Matching Layer, Delay Line and Pencil
    Transducer Frequency Range 1 - 10MHz 1 - 10MHz 1 - 10MHz 1 - 20MHz
    Transducer Recognition Automatic & manual - selectable from a list Automatic & manual - selectable from a list Automatic & manual - selectable from a list Automatic & manual - selectable from a list
    V-path / dual path error correction Automatic Automatic Automatic Automatic
    Probe Zero Automatic & manual (via integrated probe disk) Automatic & manual (via integrated probe disk) Automatic & manual (via integrated probe disk) Automatic & manual (via integrated probe disk)
    Display 1/8 VGA (greyscale)
    62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area    		 1/8 VGA (greyscale)
    62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area    		 1/8 VGA (greyscale)
    62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area    		 1/4 VGA AMOLED colour display
    57.6 x 43.2mm (2.27 x 1.78”) viewable area
    Landscape Mode
    Display Refresh Rate 25Hz 25Hz 25Hz 120Hz
    Units (selectable) mm or inches mm or inches mm or inches mm or inches
    LED Backlight on/off/auto on/off/auto on/off/auto adjustable brightness
    Repeatability / Stability Indicator        
    Battery Save Mode Auto Auto Auto Auto

     

    测量范围和精度取决于材料、表面条件和所选的传感器
     


    美国Dakota腐蚀测厚仪CMX系列技术参数
     
    Part Number Description Certificate
    Z-170-0005 Dakota CMX1 Thickness Gauge (CMX)
    Z-171-0005 Dakota CMX1-DL Thickness Gauge (CMX-DL)
    Z-172-0005 Dakota CMX2-DL Thickness Gauge (CMX-DL+)
    Z-187-0005 Dakota CMX3-DL Thickness Gauge (CMX-DL+ Colour)
    Transducer Probe Type Dual Element
    Measurement Accuracy1 0.01mm (0.001”)
    Memory 4GB Internal Memory
    Operating Temperature -10 to 60ºC (14 to 140ºF)
    Data Output USB
    Power Supply 3 x AA batteries and via USB
    Battery Life Alkaline: greyscale 35 hrs, colour 12 hrs, Nicad: greyscale 10 hrs, colour 5 hrs, NI-MH: greyscale 35 hrs, colour 12 hrs
    Gauge Weight 383g (13.5oz) - including batteries
    Gauge Dimensions 63.5 x 165 x 31.5mm (2.5 x 6.5 x 1.24”)
    Packing List Unit, Selectable Transducer, Couplant, Manual, Plastic Carrying Case, Certificate of Calibration and AA Batteries. PC Software and Data Transfer Cable included with data logging gauges.

    测量范围和精度取决于材料、表面条件和所选的传感器

    ● 校准证书作为标准提供。

    工厂校准可追溯到NIST和MIL-STD-45662

     

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