美国GE直探头SEB2KF5

SEB2KF5美国GE-TR直探头
美国GE-TR直探头 SEB..KF和SEZ5M5：具有小的高度和小的单元尺寸的特殊探头，用于近表面的小的和*小的缺陷的探测。简洁的形状使这种类型的探头可以用于一些临界位置或者不易接近的位置。
特性：非常好的近场分辨率
注释：
粗体=首选探头，带简短注释说明
O= 提供探头数据表
O= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。

类型 [订购号码]	a×b [mm]	f [MHz]	AB* [mm]	N [mm]	EB [mm]	声束形状 编号	备注	草图
特性带宽：65%
DA0.8G	20Ø	0.8	3-400	35	8	0.8-20/2	用于高衰减	类型15
特性带宽：40%
SEB1 SEB2 SEB2-0° SEB4 SEB4-0°	21Ø 7×18 7×18 6×20 6×20	1 2 2 4 4	3-400 2-1000 4.5-2000 1.5-2000 4-4000	20 15 30 12 25	10 5 5 2.5 2.5	1-21/2 2-7×18 2-7×18-0 4-6×20 4-6×20-0	0°意味着 两个单元的 公共角度是 0° 带宽100%		类型15 类型16 类型17
MSEB2 MSEB4 MSEB4-0° MSEB5	11Ø 3.5×10 3.5×10 9Ø	2 4 4 5	2-400 1-1500 1.5-2000 0.5-200	8 10 18 10	5 2.5 2.5 1	2-11/2 4-3.5×10 4-3.5×10-0 5-9/2
SEB2KF5 SEB4KF8 SEB5KF3	8 Ø 8 Ø 8 Ø	2 4 5	1.5-350 0.8-400 0.5-80	6 6 3	4 2 1	2-8/2 4-8/2 5-8/2
SEB10KF3	5 Ø	10	0.3-140	3	0.5	10-5/2			类型18
SEZ5M5	3 Ø	5	0.6-50	3	1	5-3/2	固定电缆(2m)		类型19
合成单元，特性带宽70%
SEK2C	7×18	2	1.5-1500	15	4	2-7×18		类型15
MSEK2 MSEK4	11 Ø 3.5×10	2 4	1.5-450 1-2000	8 10	4 2	2-11/2 4-3.5×10		类型16

*) 用于无衰减材料时规定的工作范围上限。实际上，如果频率增加，则上限急剧降低。
提供其它频率、单元直径、带宽或设计的探头。
我们还有大量的特殊探头可以用于在热表面上的测量（请见28和29页）





















 

附件描述	类型	备注
探头电缆（2米） 耦合剂	SEKG2 SEKM2 ZG-F	用于SEB..,SEK..,MSEB.., MSEK.., DA0.8G 用于SEB.KF. 见36页

美国GE超声波探头 
主要特性： 
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试）
•完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外） 
•牢固的金属盒 
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 
•使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
 
探头分为两大类：接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果